| Project/Area Number |
24H00451
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Section | 一般 |
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| Review Section |
Medium-sized Section 32:Physical chemistry, functional solid state chemistry, and related fields
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| Research Institution | Toyota Technological Institute |
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Principal Investigator |
藤 貴夫 豊田工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (20313207)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
趙 越 室蘭工業大学, 大学院工学研究科, 准教授 (20832166)
古谷 祐詞 名古屋工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (80432285)
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| Project Period (FY) |
2024-04-01 – 2028-03-31
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| Project Status |
Granted (Fiscal Year 2024)
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| Budget Amount *help |
¥47,450,000 (Direct Cost: ¥36,500,000、Indirect Cost: ¥10,950,000)
Fiscal Year 2024: ¥9,620,000 (Direct Cost: ¥7,400,000、Indirect Cost: ¥2,220,000)
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| Keywords | 赤外分光 / 超短光パルス / イメージング / 上方変換 / 自由誘導減衰 |
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| Outline of Research at the Start |
赤外吸収分光は、非侵襲・非染色で物質を同定できる分光法の1つであり、幅広い分野で利用されている。しかし、通常の吸収分光では、試料を透過する前後で光強度が減衰する割合を測定するため、検出器のダイナミックレンジの制限から、高い感度を得ることが難しい。本研究では、吸収信号を正の信号として計測する新しい測定原理に基づく手法を開発し、これまでの常識を覆す高感度な赤外吸収分光を実現する。
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