Development of electron beam imaging method for single-molecule elemental and state analysis

Research Project

Project/Area Number	24K01279
Research Category	Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
Allocation Type	Multi-year Fund
Section	一般
Review Section	Basic Section 28010:Nanometer-scale chemistry-related
Research Institution	National Institute for Materials Science
Principal Investigator	原野幸治国立研究開発法人物質・材料研究機構, マテリアル基盤研究センター, 主幹研究員 (70451515)
Project Period (FY)	2024-04-01 – 2027-03-31
Project Status	Granted (Fiscal Year 2024)
Budget Amount *help	¥17,680,000 (Direct Cost: ¥13,600,000、Indirect Cost: ¥4,080,000) Fiscal Year 2026: ¥7,410,000 (Direct Cost: ¥5,700,000、Indirect Cost: ¥1,710,000) Fiscal Year 2025: ¥4,680,000 (Direct Cost: ¥3,600,000、Indirect Cost: ¥1,080,000) Fiscal Year 2024: ¥5,590,000 (Direct Cost: ¥4,300,000、Indirect Cost: ¥1,290,000)
Keywords	電子顕微鏡 / 元素分析 / 単分子観察 / カーボンナノチューブ / 電子線エネルギー損失分光法
Outline of Research at the Start	「分子試料に対する究極の微量分析法」として，電子線を用いた単一分子の電子エネルギー損失スペクトル(EELS)およびエネルギー分散型X線スペクトル(EDS)の取得技術を確立する．個々の分子一つ一つの電子状態や組成分析を実現することで，超微量分析としての応用だけでなく，複雑な混合物の個々の分子の分析のように夾雑系としての分子システムの解析を精製操作を行うことなしに達成することを目的とする．