Real-space Landau-level spectroscopy on the surface of topological insulators

• Project/Area Number: 24K01351
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Section: 一般
• Review Section: Basic Section 29020:Thin film/surface and interfacial physical properties-related
• Research Institution: National Institute for Materials Science
• Principal Investigator: 吉澤 俊介 国立研究開発法人物質・材料研究機構, マテリアル基盤研究センター, 主任研究員 (60583276)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 鷺坂 恵介 国立研究開発法人物質・材料研究機構, マテリアル基盤研究センター, 主幹研究員 (70421401)
• Project Period (FY): 2024-04-01 – 2027-03-31
• Project Status: Granted (Fiscal Year 2024)
• Budget Amount: ¥18,590,000 (Direct Cost: ¥14,300,000、Indirect Cost: ¥4,290,000); Fiscal Year 2026: ¥5,590,000 (Direct Cost: ¥4,300,000、Indirect Cost: ¥1,290,000); Fiscal Year 2025: ¥5,590,000 (Direct Cost: ¥4,300,000、Indirect Cost: ¥1,290,000); Fiscal Year 2024: ¥7,410,000 (Direct Cost: ¥5,700,000、Indirect Cost: ¥1,710,000)
• Keywords: トポロジカル絶縁体 / ランダウ準位 / 走査型トンネル顕微鏡

Outline of Research at the Start

2次元電子系が極低温・高磁場下に置かれると、電子のサイクロトロン運動が量子化してランダウ準位が形成される。本研究では、極低温・高磁場走査型トンネル顕微鏡（STM）を駆使して、トポロジカル絶縁体表面の2次元電子状態に由来するランダウ準位を実空間分光観測し、ランダウ準位を構成する波動関数の微視的構造を解明する。