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Development of ultra-high sensitivity ion analysis with universal detection

Research Project

Project/Area Number 24K01516
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (B)

Allocation TypeMulti-year Fund
Section一般
Review Section Basic Section 34020:Analytical chemistry-related
Research InstitutionKumamoto University

Principal Investigator

大平 慎一  熊本大学, 大学院先端科学研究部(理), 教授 (60547826)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 森 勝伸  高知大学, 教育研究部総合科学系複合領域科学部門, 教授 (70400786)
須郷 由美  国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 高崎量子技術基盤研究所 量子バイオ基盤研究部, 上席研究員 (90354836)
Project Period (FY) 2024-04-01 – 2027-03-31
Project Status Granted (Fiscal Year 2024)
Budget Amount *help
¥18,460,000 (Direct Cost: ¥14,200,000、Indirect Cost: ¥4,260,000)
Fiscal Year 2026: ¥4,160,000 (Direct Cost: ¥3,200,000、Indirect Cost: ¥960,000)
Fiscal Year 2025: ¥6,890,000 (Direct Cost: ¥5,300,000、Indirect Cost: ¥1,590,000)
Fiscal Year 2024: ¥7,410,000 (Direct Cost: ¥5,700,000、Indirect Cost: ¥1,710,000)
Keywords超高感度イオン分析 / 放射性金属 / ユニバーサル検出 / 静電型イオンクロマトグラフィー / 水溶離液
Outline of Research at the Start

本研究では,超高感度かつユニバーサルなイオン分析を実現するために,高感度分析に適した新しい原理に基づくイオン種の分離法を創成する。また,検出においては,短寿命放射性金属をうまく活用する。これらによって,従来のイオン分析と同等の使い勝手や迅速性を維持いたままpg/Lレベルの検出下限とユニバーサルな応答を実現する。超純水をはじめとする高純度物質に含まれる微量なイオン成分,特に,容易に汚染する成分をとらえることで,半導体や製薬などの産業における原料や材料の品質管理への活用が期待される。

URL: 

Published: 2024-04-11   Modified: 2024-06-24  

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