放射光白色X線透過ラウエパターン解析による転位密度評価法の開発

Research Project

Project/Area Number	24K07213
Research Category	Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Allocation Type	Multi-year Fund
Section	一般
Review Section	Basic Section 18010:Mechanics of materials and materials-related
Research Institution	Tokyo Institute of Technology
Principal Investigator	宮澤知孝東京工業大学, 物質理工学院, 助教 (70648039)
Project Period (FY)	2024-04-01 – 2027-03-31
Project Status	Granted (Fiscal Year 2024)
Budget Amount *help	¥4,550,000 (Direct Cost: ¥3,500,000、Indirect Cost: ¥1,050,000) Fiscal Year 2026: ¥910,000 (Direct Cost: ¥700,000、Indirect Cost: ¥210,000) Fiscal Year 2025: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000) Fiscal Year 2024: ¥2,210,000 (Direct Cost: ¥1,700,000、Indirect Cost: ¥510,000)
Keywords	放射光X線 / 回折 / 白色X線 / 銅単結晶 / 転位密度
Outline of Research at the Start	本研究では、輝度が高く、広いエネルギー帯を持つ放射光白色X線を用い、金属試料から得られる透過ラウエパターンを解析することで、転位密度を評価する新手法の開発を目的とする。育成した銅単結晶から圧縮試験片を切り出し、圧縮試験片に種々の塑性変形を加えた状態で透過ラウエパターンの測定を行う。塑性変形量の変化に伴うラウエパターンの回折スポットの変化を系統的に調査し、転位密度の増加とラウエパターンの変化の関係を明らかにする。これにより透過ラウエパターンの変化から転位密度を評価する方法をまとめ、放射光分析の有用性を向上するとともに、金属材料の塑性変形機構の解明を前進させる。