20GHz超の帯域おける構造の不連続問題を含む信号線路の信頼性解析と機能評価

• Project/Area Number: 24K07498
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Section: 一般
• Review Section: Basic Section 21020:Communication and network engineering-related
• Research Institution: Nagano National College of Technology
• Principal Investigator: 春日 貴志 長野工業高等専門学校, 情報エレクトロニクス系, 教授 (10344772)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 富岡 雅弘 長野工業高等専門学校, 情報エレクトロニクス系, 講師 (00838683) ; 林 優一 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授 (60551918) ; 藤本 大介 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 准教授 (60732336)
• Project Period (FY): 2024-04-01 – 2027-03-31
• Project Status: Granted (Fiscal Year 2024)
• Budget Amount: ¥4,680,000 (Direct Cost: ¥3,600,000、Indirect Cost: ¥1,080,000); Fiscal Year 2026: ¥1,560,000 (Direct Cost: ¥1,200,000、Indirect Cost: ¥360,000); Fiscal Year 2025: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000); Fiscal Year 2024: ¥1,690,000 (Direct Cost: ¥1,300,000、Indirect Cost: ¥390,000)
• Keywords: USBコネクタ / SI/EMI / 基板の誘電率 / FDTD / CT-Scan

Outline of Research at the Start

次世代の信号伝送速度100Gbpsが求められ，信号線路やコネクタでは線路構造の不連続が起因して生ずる信号品質（SI）の劣化や電磁ノイズ放射（EMI）が懸念されている．不連続問題は2つあり，機器内を構成する基板材料の損失による不連続性，機器内外を接続するコネクタ構造や接点で生じる不連続性がある．機器内の基板材料は誘電率の周波数分散性や表皮効果といった問題に帰着し，正確に測定した誘電率と基板の内部構造を組み込んだ電磁界解析で信頼性を評価する．また，コネクタをCT-Scanで3Dモデル化して電磁界解析に組み込み，立体的に構造変化する線路や接点でのSIに着目することでその性能を議論することができる．