走査式光変調散乱手法によるミリ波帯分布計測システムの開発とテラヘルツ帯への展開

Research Project

Project/Area Number	24K07514
Research Category	Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Allocation Type	Multi-year Fund
Section	一般
Review Section	Basic Section 21030:Measurement engineering-related
Research Institution	Akita Industrial Technology Center
Principal Investigator	黒澤孝裕秋田県産業技術センター, 電子光応用開発部, 上席研究員 (60370243)
Project Period (FY)	2024-04-01 – 2027-03-31
Project Status	Granted (Fiscal Year 2024)
Budget Amount *help	¥4,550,000 (Direct Cost: ¥3,500,000、Indirect Cost: ¥1,050,000) Fiscal Year 2026: ¥910,000 (Direct Cost: ¥700,000、Indirect Cost: ¥210,000) Fiscal Year 2025: ¥1,560,000 (Direct Cost: ¥1,200,000、Indirect Cost: ¥360,000) Fiscal Year 2024: ¥2,080,000 (Direct Cost: ¥1,600,000、Indirect Cost: ¥480,000)
Keywords	電界分布計測 / 変調散乱 / 光変調 / 光走査 / 半導体散乱体
Outline of Research at the Start	電磁界分布を高感度かつ低擾乱に計測する手法として、半導体散乱体からの散乱波強度を光変調して電界検出する、光変調散乱手法による高周波電界センサを提案してきた。この技術を発展させてミリ波帯電界の振幅位相測定および光走査による分布計測を実現する。また、散乱体形状や物性と信号強度、擾乱の関係を数値計算および実験の両面から明らかにし、さらなる高感度、低擾乱を目指すための散乱体形状や材料物性の設計指針を提案する。これらの結果を基にテラヘルツ帯域へ本技術を展開する。過渡回折格子を利用した変調散乱波増幅手法について数値計算で検討し、高感度・低擾乱な電界計測手法を提案する。