Research on Clone Detection Methods for Artifact-Metrics Considering the Characteristics of Microfabrication Techniques

• Project/Area Number: 24K20772
• Research Category: Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Review Section: Basic Section 60070:Information security-related
• Research Institution: Yokohama National University
• Principal Investigator: 吉田 直樹 横浜国立大学, 情報戦略推進機構, 助教 (90835480)
• Project Period (FY): 2024-04-01 – 2027-03-31
• Project Status: Granted (Fiscal Year 2024)
• Budget Amount: ¥4,680,000 (Direct Cost: ¥3,600,000、Indirect Cost: ¥1,080,000); Fiscal Year 2026: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000); Fiscal Year 2025: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000); Fiscal Year 2024: ¥1,820,000 (Direct Cost: ¥1,400,000、Indirect Cost: ¥420,000)
• Keywords: 人工物メトリクス / セキュリティ / サプライチェーン

Outline of Research at the Start

サプライチェーンの強化が重要視されている現代社会において、物体の微細な表面形状のような製造者ですら偽造困難な製品自身が持つ物理的特徴を利用して個体管理を行う技術「人工物メトリクス」の利用が期待されている。しかし微細加工技術の進歩により物理的特徴をできる限り再現したクローンの作製が可能となり、人工物メトリクスのセキュリティが危殆化する恐れがある。本研究ではその微細加工技術の特性に着目し、クローン作製時に物理的特徴に与える影響を分析することで、クローン検知アルゴリズムを実装した人工物メトリックシステムの構築を行う。本研究により、人工物メトリクス分野全般のセキュリティレベルの向上を目指す。