Development of polarization-analyzed valence-to-core x-ray emission spectroscopy using synchrotron radiation

• Project/Area Number: 24K21814
• Research Category: Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Review Section: Medium-sized Section 36:Inorganic materials chemistry, energy-related chemistry, and related fields
• Research Institution: National Institutes for Quantum Science and Technology
• Principal Investigator: 石井 賢司 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 関西光量子科学研究所 放射光科学研究センター, 上席研究員 (40343933)
• Project Period (FY): 2024-06-28 – 2027-03-31
• Project Status: Granted (Fiscal Year 2024)
• Budget Amount: ¥6,370,000 (Direct Cost: ¥4,900,000、Indirect Cost: ¥1,470,000); Fiscal Year 2026: ¥520,000 (Direct Cost: ¥400,000、Indirect Cost: ¥120,000); Fiscal Year 2025: ¥3,120,000 (Direct Cost: ¥2,400,000、Indirect Cost: ¥720,000); Fiscal Year 2024: ¥2,730,000 (Direct Cost: ¥2,100,000、Indirect Cost: ¥630,000)
• Keywords: 放射光 / Ｘ線発光分光

Outline of Research at the Start

本研究では、フェルミエネルギー近傍にある電子の占有状態およびその対称性を調べることができる放射光硬Ｘ線分光法を開発する。SPring-8において価電子から内殻への遷移に伴うＸ線発光の偏光を解析して分光する方法を確立し、発光の偏光依存性により価電子のもつ対称性を検証する。さらに、同じ測定で偏光により方向を特定した上で、配位した元素の種類の識別も可能であることを実証する。この手法は、価電子帯の光電子分光と同じ電子状態に関する情報を高透過能の硬Ｘ線を利用して計測できるものであり、オペランド計測手法として発展する大きな可能性を有している。