Development of novel microscopy system integrating scanning electron microscopy and radiation measurement

• Project/Area Number: 24K22345
• Research Category: Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Review Section: Medium-sized Section 63:Environmental analyses and evaluation and related fields
• Research Institution: University of Tsukuba
• Principal Investigator: 山崎 信哉 筑波大学, 数理物質系, 准教授 (70610301)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 宇都宮 聡 九州大学, 理学研究院, 准教授 (40452792)
• Project Period (FY): 2024-06-28 – 2027-03-31
• Project Status: Granted (Fiscal Year 2024)
• Budget Amount: ¥6,240,000 (Direct Cost: ¥4,800,000、Indirect Cost: ¥1,440,000); Fiscal Year 2026: ¥1,950,000 (Direct Cost: ¥1,500,000、Indirect Cost: ¥450,000); Fiscal Year 2025: ¥1,040,000 (Direct Cost: ¥800,000、Indirect Cost: ¥240,000); Fiscal Year 2024: ¥3,250,000 (Direct Cost: ¥2,500,000、Indirect Cost: ¥750,000)
• Keywords: 電子顕微鏡 / 放射線計測 / 放射性セシウム / 放射性微粒子

Outline of Research at the Start

福島原発事故により、放射性セシウムを高濃度に含む放射性微粒子(CsMP)が環境に放出された。CsMPは、環境影響や生体影響、事故時の炉内状況推測などの点で重要な物質である。しかし、粒子径が小さいため（数ミクロン）、単離するには走査型電子顕微鏡(SEM)と放射線計測を相補的に行う必要があり、時間と手間の点で研究のボトルネックとなっている。そこで、本研究ではCsMPのような粒子単離を効率化するために、本研究ではSEMとGe半導体検出器による放射線計測を同時にできる新たな装置の開発を目指す。