| Project/Area Number |
24KJ1550
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| Research Category |
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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| Allocation Type | Multi-year Fund |
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| Section | 国内 |
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| Review Section |
Basic Section 60040:Computer system-related
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| Research Institution | Kyoto Institute of Technology |
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Principal Investigator |
中島 隆一 京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 特別研究員(DC2)
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| Project Period (FY) |
2024-04-23 – 2026-03-31
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| Project Status |
Granted (Fiscal Year 2024)
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| Budget Amount *help |
¥1,300,000 (Direct Cost: ¥1,300,000)
Fiscal Year 2025: ¥600,000 (Direct Cost: ¥600,000)
Fiscal Year 2024: ¥700,000 (Direct Cost: ¥700,000)
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| Outline of Research at the Start |
放射線による劣化現象 TID を考慮した耐ソフトエラーフリップフロップの開発を行う．TEG チップの上にα線源を置き長期間回路を動作させることにより, TID とソフトエラー耐性を測定し, 相関関係を調査する. α線でエラーが発生しにくい耐ソフトエラーFF についてはγ線と重イオンの照射試験により相関関係を調査する.
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