Research Project
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
本研究は、SCRIT電子散乱施設(世界唯一の短寿命不安定核を標的とした電子散乱施設)において、中性子数(N)=82魔法数をまたいだ原子核同位体(Sn、Te、Xe、Ba)電荷分布の系統的測定を目的とする。不安定核をも標的にできるSCRIT施設はそれを可能とする世界初かつ唯一の施設である。本研究では特に短寿命不安定核に用いるウラン光核分裂装置の大強度化(現在進行中)に伴って発生する多大なバックグランドに対して、散乱電子測定系に要請されるアップグレードを行う。