Research Project
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
ナノメートル超級の加工精度実現が視野に入りつつある次世代の超精密ものづくりに必須となる超精密計測基盤確立を目的として,スケールの全6自由度絶対位置・角度を一括計測する新学理を構築する.精密計測の基本である「アッベの原理」を満たした形態で,単一測定点での3軸絶対位置および3軸絶対角を高精度一括検出するとともに,スケールのピッチ(目盛)校正も行う計測・校正一体型「その場自律校正体系」を確立し,完全6自由度精密絶対スケールを実現する.