Studies on a formation mechanism of degradation layer on silicone rubber and a diagnostic technique

• Project/Area Number: 25K07717
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Section: 一般
• Review Section: Basic Section 21010:Power engineering-related
• Research Institution: University of Miyazaki
• Principal Investigator: 迫田 達也 宮崎大学, 工学部, 教授 (90310028)
• Project Period (FY): 2025-04-01 – 2028-03-31
• Project Status: Granted (Fiscal Year 2025)
• Budget Amount: ¥4,680,000 (Direct Cost: ¥3,600,000、Indirect Cost: ¥1,080,000); Fiscal Year 2027: ¥1,040,000 (Direct Cost: ¥800,000、Indirect Cost: ¥240,000); Fiscal Year 2026: ¥2,210,000 (Direct Cost: ¥1,700,000、Indirect Cost: ¥510,000); Fiscal Year 2025: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000)
• Keywords: シリコーンゴム / 経年汚損劣化 / 劣化診断

Outline of Research at the Start

本研究では，送配電用がいしの外被材であるシリコーンゴム(SiR)に汚損劣化層が形成される機構と，同層のSiR低分子成分の分散特性を明らかにする。得られた成果を基に，SiRの表面劣化度を測定できる技術を開発する。
SiRの撥水性は一時的に低下しても，バルクから表面への低分子量成分の分散によって回復する。撥水性の消失と回復は，汚損物質が表面に付着ながら繰返される。この表面の劣化度を測定できれば，長期間にわたるSiR製がいしの保守が可能となる。そこで，SiRの汚損劣化表面上で誘電体バリア放電を生起してSiR表面の撥水性を一旦低下させ，その後の撥水性回復時間からSiRの劣化度を測定する技術を開発する。