背景設置型シュリーレン(BOS)法を用いた可視化計測結果の解像度向上に関する研究

Research Project

Project/Area Number	25K07767
Research Category	Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Allocation Type	Multi-year Fund
Section	一般
Review Section	Basic Section 21030:Measurement engineering-related
Research Institution	Shonan Institute of Technology
Principal Investigator	稲毛達朗湘南工科大学, 工学部, 准教授 (70633999)
Project Period (FY)	2025-04-01 – 2028-03-31
Project Status	Granted (Fiscal Year 2025)
Budget Amount *help	¥4,550,000 (Direct Cost: ¥3,500,000、Indirect Cost: ¥1,050,000) Fiscal Year 2027: ¥520,000 (Direct Cost: ¥400,000、Indirect Cost: ¥120,000) Fiscal Year 2026: ¥1,950,000 (Direct Cost: ¥1,500,000、Indirect Cost: ¥450,000) Fiscal Year 2025: ¥2,080,000 (Direct Cost: ¥1,600,000、Indirect Cost: ¥480,000)
Keywords	圧縮性流体 / 可視化計測 / 衝撃波 / 画像処理
Outline of Research at the Start	BOS法（Background Oriented Schlieren法）は，シンプルな光学構成で流体の密度変化を定量的に計測できるが，シュリーレン法と比較して計測感度が低いという課題がある．本研究では，光源と背景画像の改良を行い，BOS法の計測精度および解像度を向上させる．特に，従来の可視化技術では困難であった管内の衝撃波伝播過程を定量的に可視化し，より高精度な流体計測を実現していく．