Research on Digital Self-Calibration and Error Correction Algorithm Unified Theory and Testing Technology for AD Converters

• Project/Area Number: 25K07776
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Section: 一般
• Review Section: Basic Section 21030:Measurement engineering-related
• Research Institution: Gunma University
• Principal Investigator: 小林 春夫 群馬大学, その他部局等, 名誉教授 (20292625)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 加藤 健太郎 福岡大学, 工学部, 助教 (10569859)
• Project Period (FY): 2025-04-01 – 2028-03-31
• Project Status: Granted (Fiscal Year 2025)
• Budget Amount: ¥4,420,000 (Direct Cost: ¥3,400,000、Indirect Cost: ¥1,020,000); Fiscal Year 2027: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000); Fiscal Year 2026: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000); Fiscal Year 2025: ¥1,560,000 (Direct Cost: ¥1,200,000、Indirect Cost: ¥360,000)
• Keywords: AD変換器 / 時間デジタイザ回路 / デジタル誤差補正・校正 / 統一理論 / LSIテスト

Outline of Research at the Start

微細CMOS集積回路を用いたADCでは精度確保のため、(i) 回路の非理想特性をADC内の回路で測定し、その値をもとにADC出力を補正するデジタル自己校正技術、 (ii) 回路や動作に冗長性を持たせて、誤差を補正するデジタル誤差補正技術の2つがある。しかし産業界への応用は限定的でる。理論的基礎ができておらず、回路のテスト技術が確立されていないためである。これらの方式は個別技術にとどまっている。またAD変換内部の誤差要因を隠してしまうのでテストの際に検出が難しく、信頼性の保証が難しい。この問題を解決するため自己校正・誤差補正ADCおよびTDC回路の理論的一般化と効率的テスト方式の研究を行う。