Reducing speciman damage in electron microscopy

Research Project

Project/Area Number	25K07783
Research Category	Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Allocation Type	Multi-year Fund
Section	一般
Review Section	Basic Section 21030:Measurement engineering-related
Research Institution	Akita Prefectural University
Principal Investigator	岡本洋秋田県立大学, システム科学技術学部, 教授 (70455799)
Project Period (FY)	2025-04-01 – 2029-03-31
Project Status	Granted (Fiscal Year 2025)
Budget Amount *help	¥4,550,000 (Direct Cost: ¥3,500,000、Indirect Cost: ¥1,050,000) Fiscal Year 2028: ¥1,040,000 (Direct Cost: ¥800,000、Indirect Cost: ¥240,000) Fiscal Year 2027: ¥780,000 (Direct Cost: ¥600,000、Indirect Cost: ¥180,000) Fiscal Year 2026: ¥1,300,000 (Direct Cost: ¥1,000,000、Indirect Cost: ¥300,000) Fiscal Year 2025: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000)
Keywords	量子電子顕微鏡 / 超伝導デバイス / 生体イメージング / 量子計算
Outline of Research at the Start	現在の透過型電子顕微鏡の分解能は、材料中の原子が一つ一つ見えるレベルに達している。しかし、凍結生物試料の場合は、試料が電子ビームによって簡単に損傷するために十分な分解能が得られない。我々は充分に少ない電子で電子顕微鏡イメージを得るために「量子技術」を使うことを提唱している。そのためには量子計算機で使われる「超伝導量子ビット」を電子顕微鏡内で使う。この新しい電子顕微鏡を実現するための理論の整備しながら、並行して予備的な実験を本事業で行う。