Structural analysis and potential distribution measurements in organic electronic devices by synchrotron radiation X-ray

• Project/Area Number: 25K07829
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Section: 一般
• Review Section: Basic Section 21050:Electric and electronic materials-related
• Research Institution: Iwate University
• Principal Investigator: 吉本 則之 岩手大学, 理工学部, 教授 (80250637)
• Project Period (FY): 2025-04-01 – 2028-03-31
• Project Status: Granted (Fiscal Year 2025)
• Budget Amount: ¥4,680,000 (Direct Cost: ¥3,600,000、Indirect Cost: ¥1,080,000); Fiscal Year 2027: ¥650,000 (Direct Cost: ¥500,000、Indirect Cost: ¥150,000); Fiscal Year 2026: ¥1,950,000 (Direct Cost: ¥1,500,000、Indirect Cost: ¥450,000); Fiscal Year 2025: ¥2,080,000 (Direct Cost: ¥1,600,000、Indirect Cost: ¥480,000)
• Keywords: X線回折 / 放射光 / In situ 2D-GIXD / 電子線ホログラフィー

Outline of Research at the Start

有機ELなどの有機電子デバイスは，フレキシブル性・軽量・低コストといった多くの利点を持ち，実生活に結びつく様々な分野に応用されつつある。しかし，有機分子を用いているがため，隣接する分子間にはエネルギー障壁があり，その結果，膜内部のキャリア輸送やバンド構造は，無機半導体と比べて複雑で，未だにその動作／劣化メカニズムは解明されていない。そこで本研究では，有機薄膜の構造をin situ放射光X線回折・散乱実験により明らかにするとともに，動作した状態の有機デバイス内部の電位分布を，電子線ホログラフィーと情報科学的機械学習を用いて観察し，作動／劣化メカニズムを視覚的に明らかにする。