均一空孔径GI型フォトニック結晶ファイバとそれを用いた低温度依存歪みセンサの開発

• Project/Area Number: 25K07861
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Section: 一般
• Review Section: Basic Section 21060:Electron device and electronic equipment-related
• Research Institution: Ibaraki University
• Principal Investigator: 横田 浩久 茨城大学, 応用理工学野, 教授 (30272115)
• Project Period (FY): 2025-04-01 – 2028-03-31
• Project Status: Granted (Fiscal Year 2025)
• Budget Amount: ¥4,680,000 (Direct Cost: ¥3,600,000、Indirect Cost: ¥1,080,000); Fiscal Year 2027: ¥780,000 (Direct Cost: ¥600,000、Indirect Cost: ¥180,000); Fiscal Year 2026: ¥780,000 (Direct Cost: ¥600,000、Indirect Cost: ¥180,000); Fiscal Year 2025: ¥3,120,000 (Direct Cost: ¥2,400,000、Indirect Cost: ¥720,000)
• Keywords: フォトニック結晶ファイバ / GI型多モードファイバ / 光ファイバセンサ

Outline of Research at the Start

断面内に周期的に空孔を配置したフォトニック結晶ファイバ (PCF) において，空孔の直径を均一とし，空孔の間隔を半径方向に変化させた均一空孔径グレーデッドインデックス (GI) 型PCFを実現し，それを用いた光ファイバ歪みセンサを構築する．歪みセンサ用のファイバとしては，空孔の間隔を均一とし，空孔の直径を半径方向に変化させたものが研究代表者のグループから提案されているが，本研究で実現する構造のファイバの方が容易に作製できる．本研究では，高い歪み測定感度が得られるファイバ構造とセンサの構成を理論的に明らかにし，試作したファイバで温度の影響の少ない歪みセンサが実現できることを実証する．