Visualization of local characteristic force using micro sampling method

Research Project

Project/Area Number	25K08710
Research Category	Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Allocation Type	Multi-year Fund
Section	一般
Review Section	Basic Section 34020:Analytical chemistry-related
Research Institution	Tokyo University of Science
Principal Investigator	野島雅東京理科大学, 研究推進機構総合研究院, 講師 (50366449)
Project Period (FY)	2025-04-01 – 2028-03-31
Project Status	Granted (Fiscal Year 2025)
Budget Amount *help	¥4,550,000 (Direct Cost: ¥3,500,000、Indirect Cost: ¥1,050,000) Fiscal Year 2027: ¥1,040,000 (Direct Cost: ¥800,000、Indirect Cost: ¥240,000) Fiscal Year 2026: ¥1,430,000 (Direct Cost: ¥1,100,000、Indirect Cost: ¥330,000) Fiscal Year 2025: ¥2,080,000 (Direct Cost: ¥1,600,000、Indirect Cost: ¥480,000)
Keywords	集束イオンビーム / マイクロサンプリング法 / 応力破壊 / アトムプローブ / 局所領域
Outline of Research at the Start	集束イオンビーム(FIB)マイクロサンプリング法の特徴は、局所（一部分）を削り出してピースとして摘出できるところにあります。炭素繊維複合材料を代表とする破壊過程は、驚くほど局所的に進展します。これまでに申請者らは、半導体を構成する異種界面における故障現象も局所的に進展することを明らかにしてきました。本研究では、不良個所を単離して評価する基準が存在しなかった応力故障現象に対して新しい物差しを提供することを目的としています。