テンダーX線領域対応光電子ホログラフィー装置の開発

Research Project

Project/Area Number	25K21503
Research Category	Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
Allocation Type	Multi-year Fund
Review Section	Basic Section 80040:Quantum beam science-related
Research Institution	Nara Institute of Science and Technology
Principal Investigator	橋本由介奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 助教 (60872877)
Project Period (FY)	2025-04-01 – 2028-03-31
Project Status	Granted (Fiscal Year 2025)
Budget Amount *help	¥4,680,000 (Direct Cost: ¥3,600,000、Indirect Cost: ¥1,080,000) Fiscal Year 2027: ¥520,000 (Direct Cost: ¥400,000、Indirect Cost: ¥120,000) Fiscal Year 2026: ¥1,820,000 (Direct Cost: ¥1,400,000、Indirect Cost: ¥420,000) Fiscal Year 2025: ¥2,340,000 (Direct Cost: ¥1,800,000、Indirect Cost: ¥540,000)
Keywords	二次元電子エネルギー分析器 / 光電子ホログラフィー / 原子配列計測
Outline of Research at the Start	ドーパント元素や界面原子配列を元素選択的かつ非破壊で可視化できる実験手法である光電子ホログラフィーは、SPring-8のBL25SU軟X線ビームラインにある阻止電場型エネルギー分析器によって実施されており、1nm未満の深さに感度を持つ表面観測が可能である。しかし、バルク領域の構造情報や深い内殻軌道を起点とした電子状態の観測には限界があった。本研究では、より高エネルギー領域であるBL27SUビームラインのテンダーX線を用いた光電子ホログラフィー装置の開発を行う。これにより観測深度が従来の数倍に達し、多層膜界面やバルク中のドーパント、さらには生体材料中の局所構造を高精度で観測することが可能になる。