| Project/Area Number |
60120007
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Special Project Research
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Research Institution | Rikkyo University |
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Principal Investigator |
小林 久夫 立教大学, 公・私立大付置, 講師 (10062605)
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| Project Period (FY) |
1985
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 1985)
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| Budget Amount *help |
¥1,200,000 (Direct Cost: ¥1,200,000)
Fiscal Year 1985: ¥1,200,000 (Direct Cost: ¥1,200,000)
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| Keywords | イオン-固体相互作用 / 励起機構 / ビーム・フォイル分光法 / 偏光測定 / 磁気量子数収率分布 / 固体効果 / 分子効果 |
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| Research Abstract |
水素イオン【H^+】と水素分子イオン【H(^+_2)】、【H(^+_3)】が炭素膜を透過した結果生成される中性成分【H^o】の励起機構を解明することを主要な目的とする。本研究では【H^o】からの脱励起発光の偏光特性を測定することにより、主として磁気量子数を因子とした収率分布を推定する。
現在まで予備的な実験を行った結果、(1)対称性の最も良い垂直入射の場合でも、原子イオン、分子イオンともに【H^o】からのHα線に偏光がみとめられた。(2)【H^o】(n=3)の磁気量子数mに対する励起収率分布は、グロー放電の場合の様に統計的な分布ではなく、ビーム方向に押し潰された形に分布している(励起収率がmの増大と共に減少)、即ちアラインメントしていることが推定された。(3)さらにこのアラインメントの程度は分子イオン入射の場合よりも原子イオン入射の場合の方が大である、即ち分子効果が存在する、ことも確認された。以上の結果は近々に報告する予定である。
次年度以降では、上記実験を系統的に行いデータの蓄積をはかり、本研究を完成する予定である。
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