| Project/Area Number |
63550031
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| Research Category |
Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Research Field |
物理計測・光学
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| Research Institution | Tohoku University |
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Principal Investigator |
後藤 公美 東北大学, 科学計測研究所, 教授 (10006132)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
武野 幸雄 東北大学, 科学計測研究所, 助手 (30126875)
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| Project Period (FY) |
1988
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 1988)
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| Keywords | 磁気記録 / 光磁気記録 / コロイド-SEM法 / 高密度磁気記録 / 磁区観察 / ビット模様 |
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| Research Abstract |
1.Co-Ni系薄膜の磁気記録の観察
直流マグネトロンスパッタリング法によって作製されたCo_<70>Ni_<30>薄膜(厚さ600A)の磁気ディスクに、2.5〜38.1kFCIの記録密度で長手方向に記録された磁気記録をコロイド-SEM法によって観察した。膜面に垂直に磁界200Oeを作用させてコロイド模様を作製することにより、再生ディスクノイズの小さな記録の場合は、磁区境界の乱れが少なく、かつ境界幅が狭いことが明らかとなった。従って本方法による磁気記録の観察は、再生ディスクノイズの大小の判定に有効であると結論される。
2.Tb-Fe-Co系薄膜の光磁気記録の観察
直流マグネトロンスパッタリング法によって作製されたTb_<27>Fe_<63>Co_<10>磁気ディスクに、半導体レーザーにより記録された4μmおよび2μmビット長の光磁気記録をコロイド-SEM法により観察した。観察例図1に示す。膜面に垂直な磁界900Oeを作用させて記録模様を作製した(C)では、明瞭な記録状態が観察されている。この方法は、記録ビット形状の直接観察に有効な方法であ る。
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