Visualization of nano structural information by X-ray spectro-ptychography
Publicly Offered Research
| Project Area | Exploration of nanostructure-property relationships for materials innovation |
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| Project/Area Number |
16H00889
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research on Innovative Areas (Research in a proposed research area)
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Review Section |
Science and Engineering
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| Research Institution | Osaka University |
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Principal Investigator |
高橋 幸生 大阪大学, 工学研究科, 准教授 (00415217)
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| Project Period (FY) |
2016-04-01 – 2018-03-31
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| Project Status |
Completed (Fiscal Year 2017)
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| Budget Amount *help |
¥5,850,000 (Direct Cost: ¥4,500,000、Indirect Cost: ¥1,350,000)
Fiscal Year 2017: ¥2,860,000 (Direct Cost: ¥2,200,000、Indirect Cost: ¥660,000)
Fiscal Year 2016: ¥2,990,000 (Direct Cost: ¥2,300,000、Indirect Cost: ¥690,000)
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| Keywords | 放射光 / タイコグラフィ / 酸素吸蔵放出材料 / X線 / 量子ビーム / ナノ材料 / Ｘ線 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
自動車排ガス浄化触媒システムに用いられる酸素吸蔵・放出材料であるセリウムジルコニウム複合酸化物微粒子にスペクトロX線タイコグラフィを適用した。大型放射光施設SPring-8において、CeのL3吸収端近傍の複数のエネルギーでタイコグラフィ測定を行い、位相回復計算を実行した結果、各エネルギーで試料の電子密度分布像を反映した位相像、X線の吸収量を反映した振幅像をピクセル分解能１３ナノメートルで再構成することに成功した。さらに、振幅像のエネルギー依存性から得られるX線吸収スペクトルを解析することで、セリウム価数の二次元分布を可視化することに成功した。また、計算機断層撮影を組合せた三次元スペクトロX線タイコグラフィの測定も行い、セリウム価数の三次元分布をピクセル分解能１４ナノメートルで再構成することにも成功した。
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| Research Progress Status |
29年度が最終年度であるため、記入しない。
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| Strategy for Future Research Activity |
29年度が最終年度であるため、記入しない。
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Report
(2 results)
Research Products
(19 results)
