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ホモマテリアルヘテロ界面の周期配列制御によるメタマテリアルの創製

Publicly Offered Research

Project AreaNew Materials Science Using Regulated Nano Spaces -Strategy in Ubiquitous Elements
Project/Area Number 22013006
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas

Allocation TypeSingle-year Grants
Review Section Science and Engineering
Research InstitutionThe University of Electro-Communications

Principal Investigator

中村 淳  電気通信大学, 大学院・情報理工学研究科, 教授 (50277836)

Project Period (FY) 2010 – 2011
Project Status Completed (Fiscal Year 2011)
Budget Amount *help
¥2,400,000 (Direct Cost: ¥2,400,000)
Fiscal Year 2011: ¥1,200,000 (Direct Cost: ¥1,200,000)
Fiscal Year 2010: ¥1,200,000 (Direct Cost: ¥1,200,000)
Keywords超格子 / ヘテロ界面 / バンド不連続 / 第一原理計算 / 局所誘電率 / ポリタイプ
Research Abstract

本研究は、(1)人工的に制御された「ホモマテリアルヘテロ界面」構造を利用したヘテロ界面の基礎物理モデルの構築と、(2)その周期配列制御によるメタマテリアルの創製、を目論むものである。すなわち、本質的に界面の格子不整合を含まない同物質の異結晶形ヘテロ構造を利用して、新たなメタマテリアルの創製とそのヘテロ構造デバイスへの応用の可能性を探る。昨年までにとりあげた窒化ホウ素(BN)に加え、本年はIV-IV族化合物半導体として最も典型的な物質で、ワイドバンドギャップ半導体として応用上も非常に重要な炭化ケイ素(SiC)、およびポストスケール世代の半導体材料として注目されるSiGe混晶を対象として、その「ホモマテリアルヘテロ界面」の電子状態を評価した。密度汎関数理論に基づく第一原理計算を用いて結晶多形超格子の電子状態計算を行った。用いた結晶多形は、立方晶系(閃亜鉛鉱構造)の3C、および六方晶系の2H(ウルツ鉱構造)、4H、および6Hである。本研究では3C/nHタイプの超格子(n=2,4,6)を考えた。SiCやSiGeのようなIV-IV族半導体および昨年評価を行ったBNのようなIII-V族化合物半導体の超格子はいずれもタイプIIの超格子となり、一方IV族単体半導体同士のヘテロ界面を用いるといずれもタイプIの超格子となることがわかった。化合物であるか単体であるかによって超格子のタイプが異なるのは、そのバンドダイヤグラムから理解可能であることが示された。また、各超格子について局所誘電率(屈折率)の空間プロファイルを評価したところ、界面近傍における誘電率の変化領域は原子レベル(高々2から3原子層以内)であることがわかった。ホモマテリアルヘテロ界面を用いることによって、急峻な界面特性を持つ超格子を作製可能であることが理論的に示された。

Report

(2 results)
  • 2011 Annual Research Report
  • 2010 Annual Research Report
  • Research Products

    (9 results)

All 2011 2010

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results) Presentation (8 results)

  • [Journal Article] First-principles calculations of the dielectric constant for the GeO2 films2011

    • Author(s)
      M.Tamura, J.Nakamura, A.Natori
    • Journal Title

      Key Eng.Mat.

      Volume: 470 Pages: 60-65

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/kem.470.60

    • Related Report
      2011 Annual Research Report
    • Peer Reviewed
  • [Presentation] First-principles evaluation of the local dielectric properties of GeO2 ultrathin films2011

    • Author(s)
      J.Nakamura
    • Organizer
      15th International Conference on Thin Films (ICTF-15)
    • Place of Presentation
      Kyoto, Japan(招待講演)
    • Year and Date
      2011-11-10
    • Related Report
      2011 Annual Research Report
  • [Presentation] Local Profile of the Dielectric Constant Near the Oxygen Vacancy in the GeO2 Films2011

    • Author(s)
      J.Nakamura, M.Tamura
    • Organizer
      American Vacuum Society 58th International Symposium & Exhibition (AVS-58)
    • Place of Presentation
      Nashville, USA
    • Year and Date
      2011-11-01
    • Related Report
      2011 Annual Research Report
  • [Presentation] BN結晶多形ヘテロ構造の電子状態2010

    • Author(s)
      加藤豪
    • Organizer
      第30回表面科学学術講演会
    • Place of Presentation
      大阪大学(大阪府)
    • Year and Date
      2010-11-05
    • Related Report
      2010 Annual Research Report
  • [Presentation] GeO2超薄膜およびGeO2/Ge界面の誘電特性:局所誘電特性に及ぼす欠陥の影響2010

    • Author(s)
      田村雅大
    • Organizer
      第30回表面科学学術講演会
    • Place of Presentation
      大阪大学(大阪府)
    • Year and Date
      2010-11-04
    • Related Report
      2010 Annual Research Report
  • [Presentation] Band and Dielectric Discontinuities of the Si1-xGex/Si1-yCy Superlattices2010

    • Author(s)
      T.Ohsugi
    • Organizer
      American Vacuum Society 57th International Symposium & Exhibition (AVS-57)
    • Place of Presentation
      アルバカーキコンベンションセンター(USA)
    • Year and Date
      2010-10-19
    • Related Report
      2010 Annual Research Report
  • [Presentation] GeO2超薄膜およびGeO2/Ge界面のナノスケール誘電特性2010

    • Author(s)
      田村雅大
    • Organizer
      第71回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      長崎大学(長崎県)
    • Year and Date
      2010-09-15
    • Related Report
      2010 Annual Research Report
  • [Presentation] Local profile of dielectric constants near the oxygen vacancy in GeO22010

    • Author(s)
      M.Tamura
    • Organizer
      International Symposium on Technology Evolution for Silicon Nano-Electronics (ISTESNE)
    • Place of Presentation
      東工大(東京都)
    • Year and Date
      2010-06-04
    • Related Report
      2010 Annual Research Report
  • [Presentation] Evaluation of the local dielectric constant near the oxygen vacancy for the defective HfO2 and SiO2 films2010

    • Author(s)
      J.Nakamura
    • Organizer
      The 37th International Symposium on Compound Semiconductors
    • Place of Presentation
      高松シンボルタワー(香川県)
    • Year and Date
      2010-06-01
    • Related Report
      2010 Annual Research Report

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Published: 2010-08-23   Modified: 2018-03-28  

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