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2007 Fiscal Year Annual Research Report

電子プローブによる構造と電子状態

Planned Research

Project AreaNew Materials Science Using Regulated Nano Spaces -Strategy in Ubiquitous Elements
Project/Area Number 19051002
Research InstitutionTohoku University

Principal Investigator

寺内 正己  Tohoku University, 多元物質科学研究所, 教授 (30192652)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 津田 健治  東北大学, 多元物質科学研究所, 准教授 (00241274)
小形 曜一郎  東北大学, 多元物質科学研究所, 助教 (90400423)
佐藤 庸平  東北大学, 多元物質科学研究所, 教育研究支援者 (70455856)
Keywords解析・評価 / 電子顕微鏡
Research Abstract

(1)ボロンナノベルトは、α-tetragonal-boron構造を有すると推測されている。これを明らかにするため、電子顕微鏡像と電子回折図形により結晶性の評価を行ったところ、α-tetragonal-boron構造と明らかに異なる結晶も含まれているものの、大半の領域はα-tetragonal-boron構造として回折波の指数付けが可能であることが明らかになった。次に、結晶対称性に最も感度が高い収束電子回折法を用い、単結晶領域から[010]入射の回折図形の取得を行った。回折強度分布を詳細に調べたところ、ほぼ2回回転対称および2種の鏡映対称を示していることから、ボロンナノベルトの大半の領域は、α-tetragonal-boron構造と結論づけた。
(2)ゼオライトを鋳型として合成されたゼオライトカーボンは、作製条件によっては窒素吸着に対し炭素材料としては最大の3000m∧2/g以上の表面積を有する。電子顕微鏡でゼオライト様の周期チャンネル構造を確認した後、電子励起X線発光スペクトルの測定を行った。ゼオライトカーボン材料から得たC-K発光スペクトルのσ発光ピークおよびπ発光ピークの強度分布を、同条件で測定した炭素同素体(ダイヤモンド、C60、グラファイト)のスペクトルと比較した結果、グラファイトとC60の両方の特徴を有していることが明らかになった。これはゼオライトカーボン材料が曲率を持ったグラフェンシートからなっていることを示唆しており、X線回折、ESRなどの他の測定結果らの予想と一致することが確認された。

  • Research Products

    (12 results)

All 2008 2007

All Journal Article (4 results) (of which Peer Reviewed: 4 results) Presentation (8 results)

  • [Journal Article] Structure and electronic properties of Mg-doped b-rhombohedral boron constructed from icosahedral clusters2008

    • Author(s)
      H. Hyodo
    • Journal Title

      Phys. Rev. B 77

      Pages: 024515

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] TEM-Spectroscopy study of electronic structures of quasicrystals and approximants2007

    • Author(s)
      M. Terauchi
    • Journal Title

      Phil. Mag. 87

      Pages: 2947-2955

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Enhanced Direct Interband-Transitions in Silicon Nanowires studied by Electron Energy-Loss Spectroscopy2007

    • Author(s)
      J. Kikkawa
    • Journal Title

      Phys. Rev. B 75

      Pages: 245317

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Strain analysis of arsenic-doped silicon using CBED rocking curves of low-order reflections2007

    • Author(s)
      K. Tsuda
    • Journal Title

      J. Electron Microscopy 56

      Pages: 57-61

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] TEM-EELSを用いたシリコンナノワイヤーのRadiative Surface Plasmonの研究2008

    • Author(s)
      佐藤庸平
    • Organizer
      日本物理学会
    • Place of Presentation
      近畿大学
    • Year and Date
      2008-03-26
  • [Presentation] 電子顕微鏡を用いた軟X線発光分光2008

    • Author(s)
      寺内正己
    • Organizer
      先端計測シンポジウム
    • Place of Presentation
      東北大学
    • Year and Date
      2008-03-06
  • [Presentation] 分析電子顕微鏡法の新展開2007

    • Author(s)
      寺内正己
    • Organizer
      日本顕微鏡学会
    • Place of Presentation
      徳島大学
    • Year and Date
      2007-10-19
  • [Presentation] Recent development of soft-X-ray emission spectroscopy instruments for a conventional analytical transmission electron microscope2007

    • Author(s)
      M. Terauchi
    • Organizer
      11th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science
    • Place of Presentation
      California(USA)
    • Year and Date
      2007-09-28
  • [Presentation] TEM-XESによる4f系物質の電子状態の研究2007

    • Author(s)
      米田雄一
    • Organizer
      日本物理学会
    • Place of Presentation
      北海道大学
    • Year and Date
      2007-09-23
  • [Presentation] TEM-XESによる炭素同素体の価電子状態解析2007

    • Author(s)
      寺内正己
    • Organizer
      日本物理学会
    • Place of Presentation
      北海道大学
    • Year and Date
      2007-09-23
  • [Presentation] TEM-EELSを用いたシリコンナノワイヤーの価電子励起スペクトルの表面効果の研究2007

    • Author(s)
      佐藤庸平
    • Organizer
      日本物理学会
    • Place of Presentation
      北海道大学
    • Year and Date
      2007-09-22
  • [Presentation] Mg-doping into boron icosahedral cluster solids, targeting high temperature superconductivity2007

    • Author(s)
      H. Hyodo
    • Organizer
      The Doyama Symposium on Advanced Materials
    • Place of Presentation
      東京大学
    • Year and Date
      2007-09-06

URL: 

Published: 2010-02-04   Modified: 2016-04-21  

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