Atomic Scale Modification

2009 Fiscal Year Self-evaluation Report

• Project Area: Nano Materials Science for Atomic Scale Modification
• Project/Area Number: 19053004
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• Allocation Type: Single-year Grants
• Review Section: Science and Engineering
• Research Institution: Nagoya University
• Principal Investigator: MUTO Shunsuke Nagoya University, 大学院・工学研究科, 教授 (20209985)
• Project Period (FY): 2007 – 2011
• Keywords: 透過電子顕微鏡 / 電子状態 / スペクトラムイメージ / 電子エネルギー損失分光 / 可視化 / 原子サイト選択的測定 / 機能元素

Research Abstract

本班の役割分担は、高エネルギー電子を用いて機能元素の電子状態を定量的に計測・評価そして可視化するという新規材料創出にとって不可欠な基盤技術を、実材料への応用に展開することにある。具体的には(1)電子エネルギー損失分光法(EELS)及び軟X線発光分光(SXES)において、特定の原子面、界面などにプローブ電子を局在(電子チャネリング)させる位置選択的な電子状態評価を、実用材料に適用する、(2)多変量解析を応用した化学結合状態マッピングによる先端ナノテク材料の物性画像診断を実施する。

Research Products

• [Journal Article] Dehydriding process ofα-AlH3 observed by transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy (2009)
  • Author(s): S. Muto, K. Tatsumi, K. Ikeda, S. Orimo
  • Journal Title: J. Appl. Phys. 105 Pages: 123514,4
  • URL: http://hdl.handle.net/2237/12636
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Local electronic structure analysis by site-selective ELNES using electron channeling and first-principles calculations (2009)
  • Author(s): K. Tatsumi, S. Muto
  • Journal Title: J. Phys.: Condens. Matter. Vol.21 Pages: 104213,14
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Capacity fading mechanism of LiNiO2-based lithium ion batteries: II. Diagnostic analyses of an active material by electron microscopy and spectroscopy (2009)
  • Author(s): S. Muto, Y. Sasano, K. Tatsumi, T. Sasaki, K. Horibuchi, Y. Takeuchi, Y. Ukyo
  • Journal Title: J. Electrochem. Soc. Vol.156 Pages: A371-A377
  • Peer Reviewed
• [Presentation] Diagnostic analysis of Li ion secondary batteries by STEM-EELS/SI-MCR (2009)
  • Author(s): S. Muto
  • Organizer: Electrochemical Seminar, Paul-Scherrer Institute
  • Place of Presentation: Switzerland
  • Year and Date: 2009-10-12
• [Presentation] Diagnostic analysis of ion-beam induced nanostructures by S/TEM-EELS (2009)
  • Author(s): S. Muto
  • Organizer: XVIII-th International Materials Research Congress: Symposium 20: Beams and Materials
  • Place of Presentation: Ion Beams, Cancun, Mexico
  • Year and Date: 2009-08-19
• [Patent(Industrial Property Rights)] 発光体およびその製造方法 (2009)
  • Inventor(s): 石川由加里、柴田典義、A.V. Vasin、J. Salonen, 武藤俊介
  • Industrial Property Rights Holder: (財)ファインセラミックスセンター
  • Industrial Property Number: 特許・特願2009-18031
  • Filing Date: 2009-01-29