2009 Fiscal Year Self-evaluation Report
Atomic-level characterization of carbon nanotube devices
| Project Area | Carbon nanotube nanoelectronics |
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| Project/Area Number |
19054017
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| Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
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| Allocation Type | Single-year Grants |
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| Review Section |
Science and Engineering
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| Research Institution | National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
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Principal Investigator |
SUENAGA Kazutomo National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, ナノチューブ応用研究センター, 研究チーム長 (00357253)
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| Project Period (FY) |
2007 – 2011
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| Keywords | カーボンナノチューブ・フラーレン / 電子顕微鏡 / 走査プローブ顕微鏡 / SFM / STM |
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| Research Abstract |
カーボンナノチューブの輸送特性がカイラリティ(炭素原子が構成する六角網面の巻き方)に支配されることはよく知られているが、ナノチューブ中に存在する各種の欠陥もまた、物理的・化学的性質を左右する重要な要素である。従ってナノチューブの原子レベルの構造と輸送特性をはじめとする各種物性との相関の詳細を明らかにすることは、カーボンナノチューブのデバイスとしての応用を目指すうえで不可欠である。本申請課題では、高感度透過型電子顕微鏡を用いて「回位」、「空孔」、「吸着原子・分子」など機能性カーボンナノチューブ中に存在する多様な欠陥を検出・同定すると同時に、それらの欠陥がナノチューブの物理的・化学的性質に及ぼす影響を実験的に検証する。特に、デバイスやセンサー等への応用を念頭に、カーボンナノチューブの原子配列の乱れが輸送特性・吸着特性など巨視的な性質に及ぼす影響を、電子顕微鏡を用いて明らかにしていくことを目的とする。
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