2018 Fiscal Year Annual Research Report
Surface/interface 3D atomic imaging by CTR scattering
Project Area | 3D Active-Site Science |
Project/Area Number |
26105008
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Research Institution | Osaka University |
Principal Investigator |
若林 裕助 大阪大学, 基礎工学研究科, 准教授 (40334205)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
高橋 敏男 東京学芸大学, 教育学部, 研究員 (20107395)
虻川 匡司 東北大学, 多元物質科学研究所, 准教授 (20241581)
田尻 寛男 公益財団法人高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門, 研究員 (70360831)
白澤 徹郎 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 主任研究員 (80451889)
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Project Period (FY) |
2014-07-10 – 2019-03-31
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Keywords | 物性実験 / 表面・界面物性 / X線 / 時分割測定 / 有機半導体 / 遷移金属酸化物 / 電池材料 |
Outline of Annual Research Achievements |
二次元に広がった活性サイトに注目し,その構造から機能を解明する「界面構造物性研究」を広い物質群に対し適用し,その学理を確立する。その目的のために,表面あるいは界面の構造を明らかにするために表面X線回折法の一種であるCrystal Truncation Rod (CTR)散乱法を利用する。具体的な研究課題は(1)時分割CTR散乱測定法の開発,(2)CTR散乱原子イメージングによる表面・界面構造物性研究の確立,(3)CTR散乱原子イメージングの普及に向けた自動解析手法の開発を行う,の3つである。これらのステップを通して,従来充分に理解されてこなかった表面近傍の構造と物性の関係を明らかにするのみならず,現時点で特殊な実験法の一つである表面X線回折法を,必要に応じて気軽に利用できる分析手法の一つとして普及させることで広く物性研究に寄与する事を目的とする。 最終年度である30年度は,成果公表に目標を定めて進めた。これまで数年にわたり理論班,試料作製班と共同で有機半導体の表面構造緩和に関する系統的な研究を行い,本課題初年度に見出したテトラセンにおける大きな表面緩和は,類似の構造を持つフェナセン類では生じていないと結論し,論文として報告した。課題3で開発した解析法を用いてペロブスカイト型酸化物超薄膜の系統的な構造研究を実施し,論文としてまとめるに至った。また,初の原子層超伝導体であるインジウム単原子層について,超伝導性を示す相の構造を解明するなど,様々な分野における界面構造起因の物性研究(課題2)を展開した。
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Research Progress Status |
平成30年度が最終年度であるため、記入しない。
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Strategy for Future Research Activity |
平成30年度が最終年度であるため、記入しない。
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Research Products
(59 results)
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[Presentation] 塗布型有機半導体単分子層単結晶の構造変化とキャリア伝導2018
Author(s)
山村祥史, 藤井宏昌, 小笠原寛人, Dennis Nordlund, 高橋修, 季子祐太郎, 石井宏幸, 小林伸彦, 新津直幸, Balthasar Blulle, 岡本敏宏, 若林裕助, 渡邉峻一郎, 竹谷純一
Organizer
日本物理学会2018年秋季大会
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