1989 Fiscal Year Annual Research Report
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01628005
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| Research Institution | Himeji Institute of Technology |
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Principal Investigator |
安岡 則武 姫路工業大学, 工学基礎研究所, 教授 (40029054)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
三浦 洋三 大阪市立大学, 工学部, 助手 (50047312)
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| Keywords | X線回折の迅速測定 / イメージングプレート |
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| Research Abstract |
イメージングプレートによるX線回折強度の測定において、最適の実験条件を求めるために、種々の検討を行った。装置の測定系の信頼性と精度を調べるために行ったこととその結果はつぎのとおりである。(1)同一の反射の測定を繰り返したときの観測値の再現性(2)同一の反射の測定において、露出時間と観測値の比例することの確認 以上の2項については、試料として、Siの粉末を用い(111)、(220)の反射の測定の繰り返し、また露出時間を変えて測定したところ、放射線測定に付随する統計的変動の範囲内であることが明かとなった。(3)一様露光による位置ムラのないことの確認 イメージングプレートからの読み出しが中心部からうずまき状に行われるため、半径方向で測定条件が一様でないといえる。そこでFeの同位元素からのX線を全面に照射して、中心から半径方向に測定し、その値でもって、測定値に対する補正係数を求めた。また、Si粉末の(111)(220)反射においてデバイ・シェラー環に沿って測定を行い、やはり統計的変動の範囲内であることを確認した。(4)露光から読み出しまでの時間経過の影響 イメージングプレートの測定の原理がX線照射によりEuイオンの励起状態が形成され、それがレーザー光により遅延蛍光を発することに基づいているため、励起状態が熱的に緩和されることが避けがたい。その影響を見るためにグラファイトの(110)反射を用い、一定の露光を行い、露光から測定までの経過時間を変数として実験をおこなった。その結果を見ると時間の経過とともに減衰して行くことが分かる。20分後には約10%の減衰がある。また減衰の程度は測定温度によって異なり、120分経過後の比較で、6°Cでは15%であるのに対し、20°Cでは28%に達する。熱的な揺動が関係するプロセスによって減衰するものと推察されるが、減衰曲線の形は簡単な関数形で表されるものではなく詳細は明かではない。
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[Publications] F.Fujii,N.Yasuoka,et al.: "A Crystallographic Workistation Connected to an ImagingーPlate XーRay Apparatus" Acta Crystallographica. B46. (1990)
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[Publications] Y.Miura,T.Onishi et al.: "Addition of a Sulfonamidy1 Radical to Unsaturated Aromatic and Alihpatic Hydrocarbons" Bull.Chem.Soc.Jpn.63. 57-61 (1990)
