1990 Fiscal Year Annual Research Report
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02402055
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| Research Institution | Tohoku University |
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Principal Investigator |
田中 通義 東北大学, 科学計測研究所, 教授 (90004291)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
寺内 正己 東北大学科学計測研究所, 助手 (30192652)
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| Keywords | 収束電子回折 / 結晶構造解析 / 点群・空間群 / 画像処理 |
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| Research Abstract |
イメ-ジングプレ-ト(IP)は入射電子線量に対する感度について次のようなきわだった特徴をもつ。1)微少線量に対する感度が非常に高い。2)大きいダイナミックレンジをもつ。3)入射線量に対する応答の直線性がきわめて高い。4)信号がディジタル化できデ-タの画像処理が容易である。今年度は1),2),4)の性質を利用して,収束電子回折図形にあらわれる結晶の対称性とそれからの破れをより一層,明確にすることができることを明らかにした。すなわち,a)例として,GaAsはGaとAsの原子番号が近かく,正しい対称性の検出には強度が弱い200反射が重要な役割をはたす。この弱い反射は従来のフィルムではバックグラウンドノイズとの区別がむずかしく,その対称性の検出は必ずしも容易ではなかった。しかし,IPの導入によって200反射の強度を正しく記録できるようになり,画像処理をすることにより,対称性を明瞭にすることに成功した。このとき強い反射は従来のフィルムでは飽和してしまい,この対称性もまた検出することが困難であったが,これもダイナミックレンジの広さのために対称性の検出ができるようになった。このように弱い反射と強い反射が混在する図形の対称性の正しい検出に極めて有効であることが実証された。b)これまで,対称性の有無の判定は視認によって行なわれてきた。微妙な対称性を判断する場合にはある種の熟練を要する。今回は購入した画像処理機能を利用して,得られた図形の対称性が結晶の不完全性によって微妙に劣化しているものをより一層,視覚的に明瞭にすることに成功した。すなわち,Siのようなきわめて完全性の高い結晶では画像処理によって対称性を強調しても,対称性のくずれはないが,Nd_2CuO_<4ー8>のような酸素欠損を含む高温超伝導体や準結晶が示す対称性はSiにくらべて悪いことを明瞭に示すことができた。今後はこれを定量化する方向で検討する。
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