1991 Fiscal Year Annual Research Report
印影の品質評価機能を有する高性能自動印鑑照合システムの開発
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02558006
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| Research Institution | Nara National College of Technology |
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Principal Investigator |
上田 勝彦 奈良工業高等専門学校, 情報工学科, 教授 (30043459)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
小澤 誠一 奈良工業高等専門学校, 情報工学科, 助手 (70214129)
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| Keywords | 印鑑照合 / 個人識別 / 印影品質 / パタ-ン認識 / 印鑑照合装置 |
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| Research Abstract |
平成3年度は2年間にわたる本研究計画の最終年度として、当初計画に基づき研究を行い、ほぼ所期の目的を達成することができた。以下に、得られた研究成果の概要について述べる。
1.平成2年度に開発した印影の品質評価機能を有する自動印鑑照合方式のシミュレ-ションシステムによって、種々の品質変動並びにパタ-ン類似度を含む多数の印影を用いて照合実験を行い、その照合性能並びに照合特性について検討した。その結果、次のような知見が得られた。
(1)従来方式の大きな欠点であった低品質真正印影に対する第1種誤照合率を大幅に低下させることが出来、品質評価機能を付加することによる効果が十分であることが確認できた。
(2)偽造印影の検出能力に関しても、従来の結果と同様に熟練者よりも優れており、総合的な照合性能は熟練者と同程度であること、およびある程度の印影品質変動に対しても十分適応できることがわかった。ただし、本照合方式は不良品質部分の増加と共に照合不能率が急増する傾向がみられ、不良品質部分の取り扱い方について今後更に検討する必要があることがわかった。
2.平成2年度に開発したパ-ソナルコンピュ-タを中心とする小型印鑑照合装置の基本システムに、登録印影ファイルを付加し、更に前記の自動照合方式をインプリメントして小型自動印鑑照合装置のプロトタイプを完成した。そして本装置上で実際に印鑑登録・照合処理を実行したところ、印鑑登録に要する処理時間は約9〜11秒、印鑑照合処理は約15〜20秒であった。実用的な観点からは、照合処理を10秒程度に高速化する必要があり、今後更に処理の高速化について検討する必要がある。
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