1990 Fiscal Year Annual Research Report
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02650189
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| Research Institution | Tokyo Denki University |
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Principal Investigator |
田中 敬一 東京電機大学, 理工学部, 教授 (70155125)
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| Keywords | 波長安定化半導体レ-ザ / 光フィ-ドバック / 干渉じま鮮明度曲線 / フ-リエ分光法 / 光位相変調 |
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| Research Abstract |
1.半導体レ-ザの発振特性:
(1.1)波長670nmの市販半導体レ-ザについて、外部の光学素子からの反射光による光フイ-ドバックがレ-ザに及ぼす影響を調べるために、現有のモノクロメ-タを用いて発振スペクトルの観測を行った。光フィ-ドバック量の調節により、多モ-ド発振から単一モ-ド発振に移行する現象を認めたが、本実験では、フィ-ドバック光によりレ-ザ-自体の寿命が著しく短縮され,数時間でレ-ザの出力が激減することがわかり,因果関係の定量的確認はできなかった。今後、反射防止膜の使用のために波長値の許容規格を決定し、規格に会うレ-ザを選別使用する方針である。
(1.2)フ-リエ分光法をもちいて発振モ-ドの解析を行うために、走査型2光線干渉計を組み立て、633nmHeーNeレ-ザを光源として、干渉じまの鮮明度曲線の自動記録をおこなった。解析により得られた発振スペクトロがファブリ・ペロ型光スペクトルメ-タによる観測結果とほぼ一致した。
2.790nm半導体レ-ザ-の温度および出力安定化回路を試作し、レ-ザ-の安定な発光を確認した。一定電流で励起した上記の半導体レ-ザに温度変化を与えたときの干渉縞の強度変化を連続記録、これを用いてモ-ドホップを伴う発振モ-ドの経時変化を観測できることが明らかになった。また干渉次数の変化量から、発振波長の温度依存性が推定できる見通しが得られた。
3.レ-ザ光に電気光学効果を応用した光位相変調法により分子吸収線の高感度検出をおこなうため、光位相変器ヘッドおよびRF増幅器を入手、変調システムをくみたて中である。
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