1991 Fiscal Year Annual Research Report
CdsーCdSeーCdTe系の固相における相境界の決定
Project/Area Number |
02650488
|
Research Institution | Waseda University |
Principal Investigator |
加藤 榮一 早稲田大学, 理工学部, 教授 (30063233)
|
Keywords | 状態図 / X線回折法 / 質量分析法 / IIーVI族化合物半導体 / 等格子定数線 |
Research Abstract |
〈序〉IIーVI族化合物の4元混晶のうちのCdS_xSe_uTe_<1ーxーu>系について粉末X線回折法により700℃及び800℃において状態図を作成したので報告する。 〈実験〉高純度試薬CdS、CdSe、CdTeを所定の組成を目標に秤量し、石英のアンプルに真空封入した。一様な固溶体にするため1000℃で100時間程度熱処理をした。その後、粉末に粉砕して所定の温度で1000時間程度平衡化熱処理をし、X線用試料とした。ディフラクトメ-タ-で得られたピ-クより、相判定及び格子定数の算出を行った。 〈結果〉Fig.1,Fig.2に作成した状態図を示す。800℃では閃亜鉛鉱型立方晶単相(Z)、ウルツ鉱型六方晶単相(W)、立方晶と六方晶間の2相(Z+W)、六方晶間の2相(W_1+W_2)の4つの領域が得られた。700℃では閃亜鉛鉱型立方晶単相(Z)、ウルツ鉱型六方晶単相(W)、立方晶と六方晶間の2相(Z+W)の3つの領域が得られた。700℃のウルツ鉱型六方晶の固溶度を表す曲線は変曲しているという結果が得られた。格子定数は組成依存性があり、ベガ-ド則ら一致するという結果が得られた。
|
Research Products
(1 results)