1991 Fiscal Year Annual Research Report
マクロ電極に近接したマイクロ電極の電気化学的挙動に関する研究
Project/Area Number |
02670979
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Research Institution | Osaka University |
Principal Investigator |
大森 秀信 大阪大学, 薬学部, 教授 (90028845)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
尾崎 茂子 大阪大学, 薬学部, 助手 (00028854)
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Keywords | ミクローマクロ複合電極 / ボルタンメトリ- / ド-パミン / 電気分析 |
Research Abstract |
ミクロ電極に近接してマクロ電極が位置するような複合電極においては,マクロ電極に印可する電位によって,ミクロ電極表面の溶液環境が制御し得るという知見を平成2年度における研究によって明らかにしている.この結果に基づいて作成したミクローマクロ複合電極を用いて,in vivo分析への適用を考える場合の第一目標としての,アスコルビン酸(AA)共存下でのド-パミン(DA)の選択的定量法の可能性を検討し,以下の結果を得た. 1.複合電極の前処理法:通常の方法で研磨したのみの複合電極のマクロ部による,AAとDAのサイクリックボルタンメトリ-(CV)においては,AAの酸化電位が不安定であり,場合によっては,DAの酸化電位と全く同じになることを示された.このような状況では,マクロ電極によって系中のAAのみを選択的に除去することは不可能である.このため,グラッシ-カ-ボン電極を酸化処理することによって,その吸着特性を変化させ得るという,報告者らの他の目的で行った研究結果に基づき,マクロ電極の酸化処理を種々の液性の水溶液中で検討した.その結果,0.1M硫酸中マクロ電極に1.8V(vs.SCE)の電位を30分間印可してその表面を酸化した後,-0.8Vで30秒間還元した場合,この電極によるCVにおいてはAAがDAよりも200mV易酸化性となり,ミクロ電極表面からAAのみを選択的に除去し得る可能性が示された. 2.AA共存下でのDAの定量:前項の方法で処理した複合電極においては,AAーDA共存系においてマクロ電極を+0.1V(前年度の研究におけるよりも0.3V負側)に印可することにより,ミクロ電極表面からAAが選択的に除去された.この条件でミクロ電極による微分パルスボルタンメトリ-を行うことにより,20mMのAA共存下0.2mM以上のDAの定量を再現性良く行うことが可能となった.
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