1991 Fiscal Year Annual Research Report
Project/Area Number |
03555062
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Research Institution | Ehime University |
Principal Investigator |
河野 博之 愛媛大学, 理学部, 教授 (50006144)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
三宅 潔 日立製作所, 日立研究所, 研究員
笹尾 真実子 核融合科学研究所, 助手 (00144171)
和田 元 同志社大学, 工学部, 助教授 (30201263)
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Keywords | 負イオン源 / 電子衝撃脱離 / 塩類粉末試料 / イオン収率 / 水素負イオン / アルカリ負イオン |
Research Abstract |
構造が簡単で、しかも、効率の良い負イオン源の開発を目差して、我々が独自に考案した装置を試作すると共に、手許の質量分析計の改造も実施して、最初に予備実験を行なった。その結果、(1)CaH_2、NaH、LiHなどの粉末試料を電子線(約300eV、3mA程度)で衝撃すると、H^‐が容易に生成され、特に、(2)NaHの場合には、イオン収率(イオン放射量対電子入射量の比)が約1%にも達することが判った。また、(3)Li_3N、LiF、LiDからのLi^‐のイオン収率は、何れも10^<‐5>程度となるが、しかし、電子の衝撃エネルギ-に対するイオン収率の依存性には、大きな差異が見られ、一方、(4)NaFの粉末試料から生成されるNa^‐とF^‐のイオン収率は、それぞれ、約10^<‐2>と10^<‐3>となり、電子親和力の大きなFの方が低い値を示した。次に、(5)当該イオン源を改造して、自己加熱可能方式で測定したところ、例えば、AgC1では融点近傍でイオン収率の急激な増大が見られた。他方、(6)イオン収率に対する導入酸素の効果も調べてみたところ、LiH→H^‐の場合には変化が表われなかったが、しかし、NaF→Na^‐及びF^‐については、酸素圧の上昇と共に、収率が単調に増加することが判った。更に、(7)当該補助金で購入したイルミネ-タ-用モノクロメ-タ-やロックインアンプなどを活用して、試料吸着表面などの仕事関数の測定も実施して、一応の成果が得られた。 以上の実験デ-タに基づいて、現在、イオン収率の支配因子(衝撃電子のエネルギ-、試料分子の解離エネルギ-、負イオン化の対象となる原子の電子親和力、試料表面の仕事関数など)を追究しており、実験式に対応する理論式の創案も試みている。 以上の研究成果については、かなりの部分を既に、国内の学会講演や国際誌上で公表しており、残餘の分についても、国内及び国外の学会で講演するために、現在、英文で執筆中である。
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Research Products
(5 results)
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[Publications] 河野 博之: "フッ化ナトリウム粉末試料の電子衝撃による気相陰イオンの生成" 日本化学会中国四国支部・同九州支部合同大会講演予稿集. 26- (1991)
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[Publications] H.Kawano: "Negative alkali ion production by slow-electron impact of thick alkali halide layers on a grid" Proc.14th Symposium on ISIAT ′91,Tokyo. 95-98 (1991)
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[Publications] H.Kawano: "Negative hydride ion production by low energy electron impact of alkali metal hydride powder" Int.J.Mass Spectrom.Ion Processes. 104. 23-34 (1991)
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[Publications] H.Kawano: "Effect of introduced oxygen gas upon the negative ion production by slow-electron impact of powdery samples" Proc.15th Symposium on ISIAT ′92,Tokyo. (1992)
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[Publications] H.Kawano: "Negative and positive hydrogen ion production by slow electron impact of powdered sodium hydride" Eighth International Conference on Solid Surfaces,Hague,The Netherlands,Oct.1992. (1992)