1992 Fiscal Year Annual Research Report

個々の原子のトンネル物性

Research Project

Project/Area Number	04352019
Research Institution	Kanazawa Institute of Technology
Principal Investigator	西川治金沢工業大学, 工学部, 教授 (10108235)
Co-Investigator(Kenkyū-buntansha)	魚住清彦青山学院大学, 理工学部, 教授 (20011124) 猪証篤東京工業大学, 生命理工学部, 教授 (50011713) 森田清三広島大学, 理学部, 教授 (50091757) 河津璋東京大学, 工学部, 助教授 (20010796) 山口豪静岡大学, 工学部, 教授 (50013537)
Keywords	電界放射顕微鏡(FEM) / 電界イオン顕微鏡(FIM) / アトムプローブ(A-P) / 走査型トンネル顕微鏡(STM) / 電界蒸発 / トンネル物性 / 走査型トンネル電子分光法(STS)
Research Abstract	本研究の当初の目的は、電界放射顕微鏡(FEM)、電界イオン顕微鏡(FIM)、アトムプローブ(A-P)、走査型トンネル顕微鏡(STM)、走査型トンネル電子分光法(STS)等の原子的な高分解能を生かして、金属、半導体、セラミックス、有機分子、生体分子等を構成する原子の配列・配位を直接観察すると共に、観察された個々の原子のトンネル特性から電子状態を明らかにしようとする研究者が集い、「個々の原子のトンネル物性」というこれまでにない微視的な観点がらの知見を物性物理に齎らそう、また新しい高機能材料の開発に求められる基本情報を提供しようとする情報交換を主とするものであった。しかし、本総合研究の分担者が計画研究の分担者として参画する重点領域研究「個々の原子のトンネル物性」が平成5年度から発足することに決まったので、研究目的も今後の研究方針の明確化と各研究者の研究計画を全分担者が理解し、相互の研究協力を蜜にするのが主となった。この目的を達成するため、重点領域研究の計画研究の分担が予定されている全研究者が参加する研究会が平成4年9月、12月、平成5年2月の3回開催された。第1回の研究会では、重点領域研究が平成5年度より発足することを受けて、各研究分担者に研究方針を運営方式を説明した。第2回研究会は熱川ハイツで応用物理学会の研究会と共同して開催され、最近の研究成果が報告された。第3回の研究会は研究代表者が在籍する金沢工業大学で開催され、平成5年度に計画研究として計画されている研究の内容が各分担者より報告され、質疑応答が熱心に続けられた。研究者の研究分田は理論から生体分子まで幅広く、どの程度相互の理解が進のかと危惧されたが、質問時間を充分設定するこにより理解と他分野への興味が深まった。その結果、本重点領域研究の研究会は班別に開かれるのではなく、全体会議として開催される事が決まった。

Research Products
(6 results)

All Other

All Publications (6 results)

[Publications] F.Iwawaki,H.Kato,M.Tometri and O.Nishikawa: "STM Study of Geometric and Electronic Structures of Ge Dimers on Si(001)" Ultramicroscopy. 42/44. 895-901 (1992)
[Publications] T.Yamaguchi: "Electronic States of Si(001) Stepped Surface under Electric Field Parallel to Surface" Journal of Physical Society of Japan. 61. 3658-3677 (1992)
[Publications] M.Yoshimura,H.Shigekawa,H.Kawadata,Y.Saito and A.Kawazu: "STM Study of Organic Thin Films of BEDT-TTF Iodide" Applied Surface Science. 60/61. 317-320 (1992)
[Publications] Y.Fukano,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.T.Oasa and S.Morita: "Scanning Force/Tunneling Microxcopy as a Novel Technique for the srudy of Nanometer-Scale Dielectrec Breakdown of Silicon Oxide Layer" Japanese Journal of Applied Physics. 32. 290-293 (192)
[Publications] H.Arakwa,H.Umemura and A.Ikai: "Protein Images Obtained by STM,AFM and TEM" Nature. 358. 171-173 (1992)
[Publications] K.Nakamoto and K.Uozumi: "A Compact STM Compatible with Conventional SEM" Uitramicroscopy. 42-44. 1569-1573 (1992)

1992 Fiscal Year Annual Research Report

個々の原子のトンネル物性

Principal Investigator

西川 治 金沢工業大学, 工学部, 教授 (10108235)

Research Products

[Publications] F.Iwawaki,H.Kato,M.Tometri and O.Nishikawa: "STM Study of Geometric and Electronic Structures of Ge Dimers on Si(001)" Ultramicroscopy. 42/44. 895-901 (1992)

[Publications] T.Yamaguchi: "Electronic States of Si(001) Stepped Surface under Electric Field Parallel to Surface" Journal of Physical Society of Japan. 61. 3658-3677 (1992)

[Publications] M.Yoshimura,H.Shigekawa,H.Kawadata,Y.Saito and A.Kawazu: "STM Study of Organic Thin Films of BEDT-TTF Iodide" Applied Surface Science. 60/61. 317-320 (1992)

[Publications] Y.Fukano,Y.Sugawara,Y.Yamanishi,T.T.Oasa and S.Morita: "Scanning Force/Tunneling Microxcopy as a Novel Technique for the srudy of Nanometer-Scale Dielectrec Breakdown of Silicon Oxide Layer" Japanese Journal of Applied Physics. 32. 290-293 (192)

[Publications] H.Arakwa,H.Umemura and A.Ikai: "Protein Images Obtained by STM,AFM and TEM" Nature. 358. 171-173 (1992)

[Publications] K.Nakamoto and K.Uozumi: "A Compact STM Compatible with Conventional SEM" Uitramicroscopy. 42-44. 1569-1573 (1992)

西川治金沢工業大学, 工学部, 教授 (10108235)