電子蓄積加速器における単バンチ不純度悪化現象の解析

1992 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 04640302
• Research Institution: Hiroshima University
• Principal Investigator: 飛山 真理 広島大学, 理学部, 助手 (60207595)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 春日 俊夫 広島大学, 理学部, 教授 (70044758)
• Keywords: 光子計数法 / 単バンチ純度 / バンチ伸長現象 / タウシェック効果

Research Abstract

1、光子計数法のエレクトロニクス系の雑音特性及び時間分解能を向上させるため、広帯域増幅器を自作し、特性評価を行った。
2、超短パルスレーザーを使い、光子計数システムの時間応答特性を測定するために必要な、トリガー装置、分光装置を製作した。
3、超短パルスレーザーを用いた測定を行い、システムの中のコンスタントフラクションディスクリミネーターの時間応答に大きな問題がある事を発見した。より性能のよい機種に交換し、ディスクリミネータやアンプ系を調整することにより、最終的に時間応答特性が光電子増倍管の管内電子走行時間の幅で決まるところまでシステムを調整した。
4、調整したシステムを高エネルギー物理学研究所放射光実験施設ビームライン21に設置し、加速器のRF電圧をパラメータとして単バンチ純度の時間変化及びバンチ長の電流依存性を測定した。また、このとき同時に加速器内のビーム不安定性の測定も行った。
5、測定結果を相対論的効果を考慮した近似を用いたタウシェック効果の表式を用いて予備解析を行い、バンチ長などを正確に入れる事により実験値をある程度良く再現する結果を得た。また、この結果について日本物理学科分科会で報告を行った。
6、バンチ長の電流依存性について解析を行い、バンチ形状の変化に関する検討を行った。
7、来年度はバンチ形状の変化が及ぼす影響、ビーム不安定性の原因について検討を行う予定である。