1993 Fiscal Year Annual Research Report
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05452198
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| Research Institution | Kyushu Institute of Technology |
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Principal Investigator |
高樹 慶次 九州工業大学, 工学部, 教授 (90005281)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
芹川 聖一 九州工業大学, 工学部, 助手 (60226686)
水波 徹 九州工業大学, 工学部, 助教授 (00174029)
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| Keywords | レーザ / ゆらぎ / 雑音 / 低周波 / 安定化 |
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| Research Abstract |
半導体レーザのゆらぎの計測のため、まづ、計測系の構成を行った。これは、大きく分けて、電気的ゆらぎの測定系と光のゆらぎ計測系に分けられるが、前者については、現有の増幅系とフィルタ及び交流電圧計で構成し、広範囲の測定を可能にした。スペクトラムの測定には、FFTも用ることとした。後者の測定には、回折格子分光器を用い、その出力をラインセンサで検出できるようにし、レーザ光の波長の測定を可能にすると共に、それを時間の関数としても精密に測定できるようにした。
測定は、主に可視光レーザダイオードの電流雑音について行われた。そのスペクトラムは1/f型であることが確認された。これは、他の化合物半導体のスペクトラムと共通するものであり、多くの生成-再結合雑音の合成としても考えられる。雑音の電流依存性も測定され、その考察には、他の接合型ダイオードの雑音のごとく拡散係数のゆらぎに起因するとしたモデルが適応できよう。
出力光のゆらぎの測定にも着手し、そのスペクトラムが、やはり1/f型であることの確認もできつつあり、電流と光のゆらぎの間の関係をその相関係数として求める必要があり、その系の構成方法についても、目下、検討中である。
レーザは、一種の発振器であり、発振器のゆらぎはそれに用いられる能動デバイスのゆらぎが大いに関与し、目下、そのゆらぎを位相ゆらぎを含めて、調査、検討中で、出力光のゆらぎの発生モデルを考察中である。
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[Publications] 楊,水波,高樹: "Low frequency noise measurements on the light output and current of laser diodes" Proc,Japan IEMT Symp.259-262 (1993)
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[Publications] 高樹,水波,楊,和田: "Low-frequency fluctuation of the transport factor in junction transistors" Jpn.J.Appl.Phys.32. 3782-3783 (1993)
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[Publications] 高樹,水波,白石,和田: "Excess noise generation by carrier fluctuation in semiconductor devices" Proc.International Symposium on EMC. (予定). (1994)
