1994 Fiscal Year Annual Research Report
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05452198
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| Research Institution | Kyushu Institute of Technology |
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Principal Investigator |
高樹 慶次 九州工業大学, 工学部, 教授 (90005281)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
芹川 聖一 九州工業大学, 工学部, 助手 (60226686)
水波 徹 九州工業大学, 工学部, 助教授 (00174029)
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| Keywords | レーザ / ゆらぎ / 雑音 / 低周波 / 安定化 |
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| Research Abstract |
半導体レーザのゆらぎの計測のため、まづ、計測系の構成を行った。これは、大きく分けて、電気的ゆらぎの測定系と光のゆらぎ計測系に分けられるが、前者については、従来使用していた増幅系とフィルタ及び交流電圧計で構成でき、広範囲の測定を可能にした。スペクトラムの測定には、FFTも用ることとした。一方、後者の測定には、回析格子分光器を用い、その出力をラインセンサで検出できるようにし、レーザ光の波長の測定を可能にすると共に、それを時間の関数としても精密に測定できるようにした。
測定は、主に可視光レーザダイオードの電流雑音について行われた。そのスペクトラムは1/f型であることが確認された。出力光のゆらぎの測定も行ない、そのスペクトラムも、やはり1/f型であることの確認もでき、電流と光のゆらぎの間の関係をその相関係数として求めた。これは、レーザの発振と共に大きくなり、このことより、レーザ光のゆらぎを光ダイオードで受け、これを電気的にレーザダイオードに帰還することにより、雑音の軽減を行なうことができるはずであり、これは、実験的にも実証され、レーザ光の雑音の軽減ができ、安定化をおこなうことができて、当初の研究目的は達成された。
レーザは、一種の発振器であり、発振器のゆらぎはそれに用いられる能動デバイスのゆらぎが大いに関与し、目下、そのゆらぎを位相ゆらぎを含めて、検討中で、出力光のゆらぎの発生モデルを更に究明する計画である。
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[Publications] 高樹,水波,白石,和田: "Excess noise generation by carrier fluctuation in semiconducher devices" Proc.Int.Symp.EMC. 520-523 (1994)
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[Publications] 楊,佐々木,水波,高樹: "Measurements on low frejuency fluctuation in laser diodes" IEEE Trans.on E・D. 41. 2162-64 (1994)
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[Publications] 高樹: "Measurements on low freguency prase and Amplitude fluctuations and its application to reduce the nuise in bipolar fransistors" IEICE Trans.Comm.E78-B. 279-280 (1995)
