1994 Fiscal Year Annual Research Report
多次元画像処理と特徴量抽出画像処理による応力ひずみ・形状・運動計測装置の試作
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05555033
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| Research Institution | Wakayama University |
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Principal Investigator |
森本 吉春 和歌山大学, 経済学部, 教授 (20029573)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
宮内 信和 (株)ネクサス, 大阪支店・システム, エンジニア
山口 秀一 シグマ光機(株), 技術部, 部長
沖野 一雄 (株)ピアス, 画像工学開発研究所, 課長
安岡 学 東洋ゴム工業(株), タイヤ実験部, 研究員
曽我 真人 和歌山大学, 経済学部, 講師 (60252839)
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| Keywords | 多次元 / 三次元画像処理 / 特徴量抽出 / 応力ひずみ計測 / 形状計測 / 運動計測 / 縞画像解析 / 位相解析 |
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| Research Abstract |
昨年までに完成した,フーリエ変換モアレ法/格子法の汎用プログラム,特徴量抽出画像処理システムを用いて,光弾性,トワイマングリーン干渉法,スペックル干渉法などで得られた縞画像解析を行った.さらに新たに格子を斜めに投影することが可能なプロジェクタも製作し,これを用いて三次元形状計測システムを製作し,鋼板や人体模型やプレス成型品などの形状計測を行った.従来の方法よりも高精度で高速な解析が行えた.新たに三次元画像を用いたフーリエ変換位相シフト法を開発した.これは従来にない高精度な位相解析法で,ナノメータオーダの平面度計測が可能である.しかし,機器の精度が悪いためにこの高精度な能力を十分に発揮できるところまで行っていない.今後より高精度化するため,別途予算申請中である.また,位相シフト法,フーリエ変換モアレ法/格子法,特徴量抽出法,フーリエ変換位相シフト法の誤差の比較検討を行った.現在,種々の干渉法,形状計測法にこれらの方法の適用範囲を拡大し,さらに使いやすくするためため,汎用三次元画像処理プログラムおよび計測システムを改良中である.また,新たにウェーブレット変換を用いた形状ひずみ解析法を開発し,この方面の研究も行っている.以上のように,本研究により,多くの研究成果が得られ,これらの成果を,日本光弾性学会,日本機械学会,日本非破壊検査協会の国内会議や,SEMやEPCEMなどの国際会議で発表した.今後これらの方法の汎用化と普及に努める必要がある.
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Research Products
(6 results)
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[Publications] Y.Morimoto,Y.Morimoto,Jr,and T.Hayashi: "Separation of Isochromaties and Isoclinics using Fourier Transform" Experimental Techniques. 18-5. 13-17 (1994)
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[Publications] Y.Morimoto,Y.Seguchi and K.Daifuku: "Fourier-transform Moire' Method with Consideration of Misalignment" Experimental Mechanics. 34. 349-356 (1994)
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[Publications] Y.Morimoto,H.E.Goscoigne and D.Post: "Carrier Pattern Analysis of Moire Interferometry using Fourier Transform Moire Method" Optical Engineering. 33. 2646-2653 (1994)
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[Publications] 森本吉春,今本善美: "フーリエ変換を用いた等色線と等傾線の分離法における誤差原因とその対策" 光弾性学論文集. 15. 21-27 (1995)
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[Publications] Y.Morimoto and H.Uchida: "Measurement of Microdeformation by Transparent-Type Diffraction Moire Interferometry Using Light Control Plate" JSME International Journal. 38. 73-79 (1995)
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[Publications] Y.Morimoto and M.Fujisawa: "Fringe Pattem Analysis by a Phase-shifting Method using Fourier Transform" Optical Engineering. 33. 3709-3714 (1994)
