1993 Fiscal Year Annual Research Report
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05640563
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| Research Institution | Nagoya University |
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Principal Investigator |
石井 久夫 名古屋大学, 理学部・化学科, 助手 (60232237)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
関 一彦 名古屋大学, 理学部・化学科, 教授 (80124220)
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| Keywords | 逆光電子分光 / 入射電子線損傷 / 電子構造 / 空準位 |
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| Research Abstract |
本研究の目的は、試料を回転させることにより入射電子線損傷を緩和し、簡便に有機固体の逆光電子スペクトルを測定できる装置を開発することである.具体的には以下のように研究を進めた.
1)広島大学谷口グループの設計した逆光電子分光装置をひな型として、有機固体用に配慮し基本設計を行った。この際、入射電子線損傷を軽源するため、イ)電子銃の焦点をずらすことにより電子ビームを発散させ試料表面上での電流密度を低減する.ロ)試料基板ができるだけ光を遮らないようにする、などに留意して設計を進めた.
2)装置を組み立て、金の蒸着膜を標準試料として用い、装置の調整を進めた.真空ポンプが超高真空対応でないため清浄な金表面が得られなかったので、文献のスペクトルを完全には再現できなかったが、無機固体に対してはほぼ正常に動作することを確認した.
3)試料回転部を組み込み、同様の調整を行い、モーターによるシグナルへのノイズの混入を極力低減するように計測系の整備を行った.
現在、入射電子線損傷に比較的耐性があるフタロシアニンを用いて、有機固体用としての調整を進めている.特に、試料膜の膜厚、試料の回転速度、入射電子線の電流密度などの各種条件の最適化を進めている.
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