1994 Fiscal Year Annual Research Report
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05671631
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| Research Institution | Iwate Medical University |
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Principal Investigator |
古川 良俊 岩手医科大学, 歯学部, 講師 (40156956)
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| Keywords | 金属アレルギー / 機能時口腔内電位 / イオン溶出 |
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| Research Abstract |
アレルギー疾患の発症機序の解明のため、金属溶出の指標となる口腔内電位を各種歯科用合金について、機能的条件下で測定、検討した。被験金属はCo,Cr,Ni,Snを含む歯科用合金と、対象としてアレルギーの可能性の低いAu,Au-Ag-Pd合金を選択した。被験者はアレルギー疾患の既往の無い男性4名とし、小臼歯〜大臼歯に実験部位を設定した。電位導出方法はリ-ド線を実験用鋳造冠に直接スポット溶接し、絶縁チューブで被膜し口腔外に取り出し、頬部口腔粘膜に直径3mm、直径40mmの炭素棒を接地電極として設定した。電位測定時の機能的条件として、開口安静時、側方滑走運動時、酸性飲料水含口時(pH:3.75のオレンジジュース)の3種を設定した。Ni-Cr合金においては、安静時に-63.9〜-325.7mVが滑走時-82.0〜-365.3mVに、含口時-92.4〜-396.7mVに変化した.Co-Cr合金においては、安静時に-134.3〜-411.5mVが滑走時-181.7〜-434.0mVに、含口時-279.3〜-427.7mVに変化した.Ag合金においては、安静時に-154.8〜-288.4mVが滑走時-191.2〜-308.7mVに、含口時-234.2〜-376.8mVに変化した。Au-AG-Pd合金においては、安静時に+51.4〜-135.0mVが滑走時+51.8〜-138.3mVに、含口時-27.0〜-238.4mVに変化した.Au合金においては、安静時に+25.0〜-103.9mVが滑走時+21.4〜-132.0mVに、含口時-35.6〜-226.2mVに変化した。アレルギー感作率の高い歯科用合金について、口腔内電位を機能的条件下で測定したところ、イオン溶出を疑わせる実験データを得ることができた。しかし、口腔内電位と唾液中の金属イオン濃度との直接的因果関係については、いまだ明白ではない。また、アレルギー疾患として身体症状を呈している患者群についても、その口腔内に存在している金属修復物の表面電位や唾液中金属イオン濃度についても、今後測定、検討し、アレルギー疾患の診断法の一つとして確立して行きたい。
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