1994 Fiscal Year Annual Research Report
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06235201
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| Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
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Principal Investigator |
橋爪 弘雄 東京工業大学, 工業材料研究所, 教授 (10011123)
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| Keywords | イメージング・プレート / X線トポグラフ / ラウエ法 / シンクロトロン放射 |
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| Research Abstract |
白色シンクロトロン放射X線によりチタン酸ストロンチウム単結晶の透過型ラウェ回析像をイメージング・プレート(IP:フジ写真フィルム(株))に記録し、BA100スキャナーで画像を読取った。試料およびIPを平行移動させ、直径16mm、厚さ0.3mmの単結晶板の全体の回析像を得た。(100)表面に対し色々の方向からX線ビームを入射させ、約70個の逆格子点に対応する像を得た。これらの回析斑点は波長0.2〜0.4AのX線により生じている。個々の斑点は顕微トポグラフ像になっており、像内にチタン酸ストロンチウム単結晶の成長欠陥に対応する微細なコントラストが認められる。画像解析には(株)サピエンスのソフトウエアSuper Frame2、Super Tableauを用いた。25cm×20cmのIPの画像を圧縮し、パソコンのCRT画面に表示した。Super Tableauで個々のラウエ斑点のデータをディジタル的に切出し、灰色表示曲線を種々に変化させて微弱なコントラストを可視化し、成長欠陥のコントラストの回析ベクトルによる変化、X線波長による変化を研究した。主な成果は、(1)チタン酸ストロンチウムはきわめてX線吸収率の高い物質であるが、IPの使用により回析顕微像が24secの露光時間で記録できた。(2)水熱法で育成した単結晶の成長分域、分域毎の格子面の傾き、結晶粒界の組織IP像で観察された。X線フィルム記録には観察されない微弱な欠陥像が、レスポンス曲線の調整により高コントラストで表示された。
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