X線磁気ブラッグ散乱による希土類合金の研究

1995 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 06452309
• Research Institution: UNIVERSITY OF TOKYO
• Principal Investigator: 七尾 進 東京大学, 生産技術研究所, 教授 (60013231)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 渡辺 康裕 東京大学, 生産技術研究所, 助手 (80182955)
• Keywords: X線磁気ブラッグ散乱 / 希土類合金 / 遷移金属 / X線磁気吸収 / 磁気EXAFS / 放射光 / 円偏光X線

Research Abstract

本研究は、シンクロトロン放射光発生技術の最近の進歩によって可能になった円偏光光源を使用したX線磁気散乱であるX線磁気ブラッグ散乱および磁気EXAFSの実用的な測定法を開発して、純鉄および希土類合金の実際の研究へ適用することを目的として行われた。その研究成果は次のとおりである。
1.磁気ブラッグ散乱測定用X線検出・計数システムの開発
本測定では10^<-4>のオーダーの散乱強度の差を精密に測定する必要があるので、10^8以上のカウントを短時間のうちに蓄積する必要があり、高計数率の測定が可能な計数システムの構築が実験の成否を握る鍵となる。そこで、高計数率X線検出器としてアバランシェ・ダイオード検出器を採用し、これと自作品を改良した計数装置を組み合わせた計数システムを構成して、、ほぼ満足すべき性能のシステムを準備することができた。
2.X線磁気ブラッグ散乱の測定
純鉄単結晶の磁気ブラッグ散乱測定を行い、鉄のX線磁気形状因子を得た。これはバンド計算の結果とよい一致を示している。
3.磁気EXAFS、X線磁気吸収(MCD)の測定
磁気EXAFS測定を純鉄およびDyFe_2について行い、この測定が試料の磁気構造を反映した情報を与えることを明らかにした。また、データ解析における解決すべき問題点の存在を指摘した。
MCD測定を3d遷移金属および種々の3d遷移金属と希土類の合金について測定し、MCDプロファイルと磁性電子のバンド構成との相関に関する多くの知見を得た。

Research Products

• [Publications] T.Nakamura, M.Mizumali, T.Kamo, H.Kimura, Y.Watanabe, S.Nanao: "Spin-Dependent Absorption in RE-TM Amorphous Films" KEK Activity Report. (印刷中). (1996)