1995 Fiscal Year Annual Research Report
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06555132
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| Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
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Principal Investigator |
三木 千寿 東京工業大学, 工学部, 教授 (20016645)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
町田 文孝 川田工業(株), 技術本部, 主任研究員
舘石 和雄 東京工業大学, 工学部, 講師 (80227107)
廣瀬 壮一 岡山大学, 環境理工学部, 助教授 (00156712)
池田 清宏 東北大学, 工学部, 助教授 (50168126)
北原 道弘 東海大学, 海洋学部, 助教授 (60135522)
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| Keywords | 超音波探傷 / 信号処理 / 波形処理 / 画像化処理 / 高精度定量化 / 端部エコー / 欠陥先端 |
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| Research Abstract |
・主に鋼構造物を中心として、超音波探傷の現在の探傷技術、信号処理技術、波形処理技術、画像化処理技術を整理し、更に超音波深探傷を高精度定量化するための問題点を明確にした。
・鋭い欠陥先端からの超音波散乱エコーである端部エコーの発生メカニズムを、方形スリット欠陥をモデルとした、数値シミュレーションを行い、欠陥先端近傍の変形挙動(先端に集中するせん弾変形による欠陥先端の回転変位)を用いて説明した。また、その端部エコーの特性として、端部エコーの発生時間が欠陥先端では入射時間より1/4周期分遅れていること、波形は、欠陥の左右端、上下端では逆転していること、エコー高さは、欠陥の幅に依存することを明らかにした。
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