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1994 Fiscal Year Annual Research Report

ペンデルビート法による吸収端近傍の異常散乱因子の精密測定

Research Project

Project/Area Number 06640454
Research InstitutionSaitama Institute of Technology

Principal Investigator

吉沢 正美  埼玉工業大学, 科学技術研究所, 研究員 (70166932)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 江原 健治  埼玉工業大学, 工学部, 講師 (90102897)
根岸 利一郎  埼玉工業大学, 科学技術研究所, 研究員 (70237808)
深町 共栄  埼玉工業大学, 工学部, 教授 (20092314)
KeywordsX線共鳴散乱 / ペンデルビート / 異常散乱因子 / 吸収端 / 原子散乱因子 / 完全結晶 / 動力学理論
Research Abstract

結晶内原子の異常散乱因子は、吸収端近傍でXANESやEXAFSが現れるように、固体の結合効果の影響から自由原子モデルの理論計算とは異なる。そして、その相違は、実験上の困難さから、現在のところ明確な実験データが不足している。当研究の目的は、Si,Ge,GaAs,GaSb,InP,InSbなどの半導体結晶やCuのひげ結晶を用いて吸収端近傍のX線共鳴散乱によるペンデルビート(PBXRS)の測定から異常散乱因子を求め、理論計算と比較、検討することである。
平成6年度は、理論的検討、実験装置の整備、試料作成及び予備実験を行った。PBXRSは、構成原子、反射指数、試料の厚さなどの測定条件が整わなければ観測が困難であることから、PBXRSが最も顕著に観測できる条件を吸収を考慮した動力学理論を用いて理論的に考察した。その結果、実験が行い易い10keV付近に吸収端があるGeの420,440,620,844反射,GaAsの200、420、600反射が有力であることが分かった。実験装置の整備は、埼玉工業大学とKEK-PFで当研究で使用するエネルギー分散型計測システムを作成した。また、吸収端近傍を精度よく測定するための微少回転機構(最小角度ステップ0.02秒)を4円回折計のφ軸上に作製した。この装置の性能試験と予備実験を兼ねて、埼玉工業大学では、Ge 420,440,642反射、GaAs 600反射、KEK-PFでは、Ge 844反射、GaAs 200反射のPBXRSの測定を行った。特に、KEK-PFのGe 844反射のPBXRSの測定で、吸収端の極近く(吸収端より約-3eV)に従来の動力学理論計算では現れない強度変化が生じていることを観測した。これは、その後の考察から、f^0+f=0つまり原子散乱因子の虚数部のみによる回折であることが分かった。これについては、さらに研究を進めている。

  • Research Products

    (6 results)

All Other

All Publications (6 results)

  • [Publications] 吉沢正美: "ペンデルビートによる異常分散の研究" 埼玉工業大学紀要. 第4号(印刷中). (1995)

  • [Publications] 吉沢正美: "Anomalous Scattering Factors very near the K-Absorption Edge of Ge II" KEK Progress Report. 94-1 A/M. 144-144 (1994)

  • [Publications] 深町共栄: "Dispersion Surface of X-ray Very Near the Absorption Edge" Acta Crystallographica. A51(印刷中). 1995

  • [Publications] 深町共栄: "Dynamical Diffraction in the Laue Case with Borrmann Absorption" Acta Crystallographica. A50. 475-480 (1994)

  • [Publications] 深町共栄: "原子散乱因子の虚数部だけの回折における分散画" 埼玉工業大学紀要. 第3号. 38-44 (1994)

  • [Publications] 根岸利一郎: "ボルマン効果によるトポグラフのコントラスト" 埼玉工業大学紀要. 第3号. 80-83 (1994)

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Published: 1996-04-08   Modified: 2016-04-21  

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