1994 Fiscal Year Annual Research Report
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06650468
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| Research Institution | Kobe University |
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Principal Investigator |
吉村 武晃 神戸大学, 工学部, 助教授 (70031127)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
中川 清 神戸大学, 工学部, 助手 (50198032)
峯本 工 神戸大学, 工学部, 教授 (60031093)
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| Keywords | 光断層像 / 反射型光学系 / OCDR法 / OFDR法 / 2次モーメント装置 |
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| Research Abstract |
反射型光学系で光断層像を得るのに、OCDR法(Optical Coherence Domain Rflectometry)とOFDR法(Optical Frequency Domain Reflectometry)とを応用し、処理装置として2次モーメント画像計測法を適用した2種類の測定方式の開発を行い、両者の特徴を比較検討した。以下得られた結果を示す。
1.OCDR法による断層像測定
(1)光源としてスーパールミネッセント・ダイオードを用いた場合、z-プロフィル関数はガウス型となり、分解幅は3.4μmが得られた。この特性を利用して、一円硬貨の表面のトポグラフィ計測を行った。
(2)光源として干渉フィルタをとうしたハロゲンランプを用いた場合、z-プロフィル関数は指数型関数となり分解幅は5μmが得られた。この分解幅は干渉フィルタにより決まるもので大幅な改善が期待できる。
(3)上記(2)を干渉顕微鏡に組み込み、生体試料として玉葱を選び実測した。その結果、細胞の断層像が得られ、現在、その細胞の再構成を行っている。
2.OFDR法による断層像測定
(1)半導体レーザの注入電流を変化させ、光周波数を線形変調させた。その結果、モードホップが起こらない範囲で30GHzまで変化させることができた。距離分解幅は4.4mmが得られた。
(2)散乱体としてイントラリピッド溶液を使用し、断層像測定を行った。その結果、低濃度ならば十分精度良く断層像が得られることが分かった。
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