真空紫外領域(VUV)での多価イオンからの超微弱光の検出

1995 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 07218101
• Research Institution: The Institute of Physical and Chemical Research
• Principal Investigator: 岡崎 清比古 理化学研究所, プラズマ物理研究室, 先任研究員 (70260198)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 佐藤 国憲 核融合科学研究所, プラズマ計測研究系, 助教授 (70126861) ; 箕曲 在道 理化学研究所, マイクロ波物理研究室, 先任研究員 (10087439)
• Keywords: 真空紫外 / 微弱光検出 / EBIS

Research Abstract

多価イオンの分光学は天体物理,高温プラズマ診断,ビームフォイル,X線レーザーなどの分野で着実に基礎データをつみあげてきている。しかし,原子番号Zが大きくなると急にデータは少ないのが現状である。1つは発生源,1つは測定手段の問題が進展をおくらせている。多価イオン原子構造の研究においては,遷移エネルギーが1keV以下のいわゆる斜入射領域の測定も重要であり,この領域では微弱光検出が一つのネックになっている。我々は,電通大に建設されたEBISでの斜入射分光器で使用できる微弱光用多チャンネル検出器を試作し,動作試験を行うことを目的として本研究課題を遂行した。
昨年度で,真空紫外(VUV)用多チャンネル検出器の構成要素であるMCP(Micro Channel Plate)と蛍光板を真空チャンバーに組み込み,蛍光板によりVUV光から可視光に変換された光パルスをリレー光学系を介してMOS型リニアイメージセンサに結像させた。また,VUV光の模擬照射光源としての放電管をLiF窓を介して真空チャンバーに取り付けた。本年度で,上記リニアイメージセンサの試験を行った。このリニアイメージセンサは,常温で使用したためかどうかは不明であるが,MCPからのダ-クパルスはリニアイメージセンサ自体の雑音にうもれて測定できなかった。また,一次元センサであるので,MCPが二次元である長所をいかせない。次に,本年度において購入したチルド(冷却)CCDカメラをリニアイメージセンサと交換して設置し,VUV光検出器としての試験を行った。CCDカメラの出力信号は市販のボードを利用しパソコンに取入れ,二次元信号の解析プログラムを開発した。CCDカメラは蓄積時間が長くなると雑音が増えるが,MCPからの光パルスとははっきりと異なり,解析プログラムにより除去できる。入手したMCPのダ-クカウントは,約0.5カウント/s/cm^2であった。