1996 Fiscal Year Annual Research Report
イメージセンサと液晶表示素子を一体化した即時画像処理システム
Project/Area Number |
07405051
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Research Institution | Tohoku University |
Principal Investigator |
小柳 光正 東北大学, 工学部, 教授 (60205531)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
柳 基鎬 東北大学, 工学部, 助手 (20270811)
江刺 正喜 東北大学, 工学部, 教授 (20108468)
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Keywords | 画像処理 / スマートピクセル / 液晶表示素子 / イメージセンサ / ウェーハ張り合わせ / SOI |
Research Abstract |
2次元の動画像をそのまま2次元画像情報として取扱い、入出力画像間で複雑の演算処理をリアルタイムで実行できる小規模の画像処理システムを製作した。このシステムは、イメージセンサと液晶表示素子を一体化したセル(スマートピクセル)を2次元状に配置したパネルから成る入出力層と、画像演算処理を行うための簡易的な画像プロセッサをアレイ状に配置したプロセッサ層を積層化した構成となっている。まず、スマートピクセルをアレイ状に並べた小規模のパネルを製作し、基本特性を評価した。ガラスSOIウェハを用いてCMOS画像処理プロセッサ回路を設計・製作し、基本特性を評価した。これらの要素技術を基に、リアルタイム処理が可能な小規模の画像処理システムを設計・製作し、基本動作を確認した。本画像処理システムを用いて高速移動物体を検出および追跡する新しい画像処理手法を確立した。
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[Publications] M. Koyanagi: "Optical Interconnection Using Polyimide Waveguide for Multi-Chip Module in Opto-electronic Interconnects and Packaging" SPIE-The International Society for Optical Engineering. CR62. 329-342 (1996)
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[Publications] Y. Noguchi, M. Koyanagi 他: "Polymide Optical Waveguide with Multi-Fan-Out for Multi-Chip Module Application" Extended Abstracts of the 1996 International Conference on Solid State Devices and Materials. 646-648 (1996)
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[Publications] K.-H. Yu, M. Koyanagi他: "Development of Real-Time Microvision System Based on Three-Dimensional LSI Technology" Journal of Intelligent Material Systems and Structures. 7-3. 342-345 (1996)
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[Publications] K.-H. Yu, M. Koyanagi他: "Real-Time Microvision System with Three-Dimensional Integration Structure" Proceedings of the 1996 IEEE/SICE/RSJ International Coference on Multisensor Fusion and Integration for Intelligent Systems. 831-835 (1996)
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[Publications] S. Pidin and M. Koyanagi: "Two-Dimensional Aanlytical Subthreshold Model and Optimal Scaling of Fully-Depleted SOI MOSFET Down to 0.1 um Channel Length" Extended Abstracts of the 1996 International Conference on Solid State Devices and Materials. 308-310 (1996)
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[Publications] T. Matsumoto, M. Koyanagi他: "Relation between Kink Effect and Impact Ionization Effect in SOI MOSFET_s with Body Terminal" Extended Abstracts of the 1996 International Conference on Solid State Devices and Materials. 320-322 (1996)
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[Publications] 小柳光正: "半導体プロセスにおけるチャージング・ダメ-ジ-「4.1電気ストレスによるトランジスタ特性の劣化」" リアライズ社, 251-272 (1996)
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[Publications] 小柳光正: "新版情報処理ハンドブック-「5.1デバイス技術」、「5.5将来技術」" 情報処理学会偏, 1-3, 19-24 (1996)